IEEE Design & Test of Computers (M-D&T)
Verfügbarkeit: | für Mitglieder der Leibniz Universität Hannover zugänglich, weitere Informationen in der Readme-Datei |
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Lizenzierter Zeitraum: | IEEE Electronic Library (IEL) Universitätskonsortium: Jg. 1, H. 1 (1984) - Jg. 29, H. 4 (2012) ReadMe |
Volltext: | http://shan01.han.tib.eu/ezb/start?ezbid=1282&title=IEEE+Design+%26+Te… |
Homepage(s): | |
Volltext online seit: | Jg. 1 , H. 1 (1984) |
Volltext online bis: | Jg. 29 , H. 6 (2012) |
Verlag: |
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ; IEEE Computer Society Open Access Policy des Verlages in SHERPA/RoMEO suchen |
ZDB Nummer: | 2028644-2 |
Titelhistorie: |
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Fachgruppe(n): | |
Schlagwort(e): | Computerstandards |
E-ISSN(s): | 1558-1918 |
P-ISSN(s): | 0740-7475 |
Form: | Volltext, Online und Druckausgabe |
Kosten: | kostenpflichtig |
Bemerkung: | Ab 30.2013 u.d.T.: IEEE Design and Test (D&T) |
Liste der teilnehmenden Institutionen, die Volltextzugriff bieten. |