IEEE Design & Test (D&T)

Verfügbarkeit:	für Mitglieder der Leibniz Universität Hannover zugänglich, weitere Informationen in der Readme-Datei
Lizenzierter Zeitraum:	IEEE Electronic Library (IEL) Universitätskonsortium: Jg. 30, H. 1 (2013) - ReadMe
Volltext:	http://shan01.han.tib.eu/ezb/start?ezbid=195195&title=IEEE+Design+%26+…
Homepage(s):	https://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=6221038 https://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punumber=6221038 https://www.computer.org/csdl/magazine/dt https://www.computer.org/csdl/mags/dt/index.html
Volltext online seit:	Jg. 30 , H. 1 (2013)
Verlag:	Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ; IEEE Computer Society Open Access Policy des Verlages in SHERPA/RoMEO suchen
ZDB Nummer:	2714080-5
Titelhistorie:	2028644-2 im Zeitraum: 1.1984 - 29.2012 1984-2012 IEEE design & test of computers / 2714080-5 im Zeitraum: 30.2013 - 2013- IEEE design & test /
Fachgruppe(n):	Informatik
Schlagwort(e):	Computerstandards
P-ISSN(s):	2168-2356
Form:	Volltext, Online und Druckausgabe
Kosten:	kostenpflichtig
Bemerkung:	Bis 29.2012 u.d.T.: IEEE Design & Test of Computers (M-D&T)
	Liste der teilnehmenden Institutionen, die Volltextzugriff bieten.