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Synonyme wurden verwendet für: Verschleiß

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Verwendete Synonyme:

  • abnutzung
  • mechanical wear
  • verschleissart
  • verschleissrate
  1.  

    Pannier. A Container-based Flash Cache for Compound Objects

    Li, Cheng / Shilane, Philip / Douglis, Fred et al. | TEMA | 2015
    Schlagwörter: Abnutzung
  2.  

    Mit Landkarte zum Ziel. Mit Strategietool BV-Systeme systematisch entwickeln

    Schmitt, Robert / Koßmann, Ulrich / Dietrich, Björn | TEMA | 2010
    Schlagwörter: Verschleißart
  3.  

    Lebenszykluskosten - neue Ergebnisse aus mehrjährigen Betriebserprobungen (Teil 2)

    Helwig, Elisabeth / Stephan, Arnd / Pupke, Frank | TEMA | 2017
    Schlagwörter: Verschleißrate
  4.  

    NAND Flash Memories

    Micheloni, Rino / Crippa, Luca | TEMA | 2017
    Schlagwörter: Abnutzung
  5.  

    Lebenszykluskosten von Fahrdrähten - Grundlagen und erste Ergebnisse

    Helwig, Elisabeth / Stephan, Arnd / Pupke, Frank | TEMA | 2016
    Schlagwörter: Verschleißrate
  6.  

    A dual-rail compact defect-tolerant multiplexer

    Ben Dhia, A. / Slimani, M. / Cai, H. et al. | TEMA | 2015
    Schlagwörter: Abnutzung
  7.  

    A long lifetime, low error rate RRAM design with self-repair module

    You, Zhiqiang / Hu, Fei / Huang, Liming et al. | TEMA | 2016
    Schlagwörter: Abnutzung
  8.  

    Toss-up Wear Leveling: Protecting Phase-Change Memories from Inconsistent Write Patterns

    Zhang, Xian / Sun, Guangyu | TEMA | 2017
    Schlagwörter: Abnutzung
  9.  

    Acceleration of potential-induced degradation (PID) by salt-mist preconditioning in c-Si photovoltaic modules

    Suzuki, Soh / Nishiyama, Naoki / Yoshino, Seiji et al. | TEMA | 2014
    Schlagwörter: Abnutzung
  10.  

    Prolonging Lifetime of PCM-Based Main Memories through On-Demand Page Pairing

    Asadinia, Marjan / Arjomand, Mohammad / Azad, Hamid Sarbazi | TEMA | 2015
    Schlagwörter: Abnutzung
  11.  

    ETD-Cache. an expiration-time driven cache scheme to make SSD-based read cache endurable and cost-efficient

    Dai, Ningwei / Chai, Yunpeng / Liang, Yushi et al. | TEMA | 2015
    Schlagwörter: Abnutzung
  12.  

    Qualification of 50 V GaN on SiC technology for RF power amplifiers

    Wel, P.J. van der / Roedle, T. / Lambert, B. et al. | TEMA | 2013
    Schlagwörter: Abnutzung
  13.  

    Screening for counterfeit electronic parts

    Sood, Bhanu / Das, Diganta / Pecht, Michael | TEMA | 2011
    Schlagwörter: Abnutzung
  14.  

    Detektion von Verschleißerscheinungen an Mittelspannungsvakuumschaltröhren durch die Messung der Lichtbogenbeweglichkeit mittels externer Magnetfeldsensoren

    Rettenmaier, Thomas / Hinrichsen, Volker / Lawall, Andreas et al. | TEMA | 2012
    Schlagwörter: Verschleißart
  15.  

    Exciton induced chemical reactions in organic light emitting devices

    Scholz, Sebastian / Meerheim, Rico / Lüssem, Björn et al. | TEMA | 2009
    Schlagwörter: Abnutzung
  16.  

    Les entretoises en polymeres, voisines preferees des cables

    Kluth, Andre | TEMA | 2009
    Schlagwörter: Abnutzung
  17.  

    Photocurrent spectroscopy evidence for stress-induced recombination centres in quantum wells of InGaN/GaN-based light-emitting diodes

    Rigutti, L. / Castaldini, A. / Meneghini, M. et al. | TEMA | 2008
    Schlagwörter: Abnutzung

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