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Synonyme wurden verwendet für: Verschleiß

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Verwendete Synonyme:

  • abnutzung
  • mechanical wear
  • verschleissart
  • verschleissrate
  • wear type
  1.  

    Qualification of 50 V GaN on SiC technology for RF power amplifiers

    Wel, P.J. van der / Roedle, T. / Lambert, B. et al. | Tema Archiv | 2013
    Schlagwörter: Abnutzung
  2.  

    Detektion von Verschleißerscheinungen an Mittelspannungsvakuumschaltröhren durch die Messung der Lichtbogenbeweglichkeit mittels externer Magnetfeldsensoren

    Rettenmaier, Thomas / Hinrichsen, Volker / Lawall, Andreas et al. | Tema Archiv | 2012
    Schlagwörter: Verschleißart
  3.  

    Exciton induced chemical reactions in organic light emitting devices

    Scholz, Sebastian / Meerheim, Rico / Lüssem, Björn et al. | Tema Archiv | 2009
    Schlagwörter: Abnutzung
  4.  

    Reliability Performance of 1200 V and 1700 V 4H-SiC DMOSFETs for Next Generation Power Conversion Applications

    Gajewski, Donald A. / Ryu, Sei-Hyung / Das, Mrinal et al. | Tema Archiv | 2014
    Schlagwörter: Abnutzung
  5.  

    Arc erosion behavior and microstructure investigations of silver-based contact materials

    Selzner, Christian / Mücklich, Frank | Tema Archiv | 2008
    Schlagwörter: Abnutzung
  6.  

    The LCA sampling method for varieties of wire and cables

    Ikehata, M. / Sugimoto, T. / Inamori, Y. et al. | Tema Archiv | 2004
    Schlagwörter: Abnutzung
  7.  

    50 nm AlxOy resistive random access memory array program bit error reduction and high temperature operation

    Ning, Sheyang / Iwasaki, Tomoko Ogura / Takeuchi, Ken | Tema Archiv | 2014
    Schlagwörter: Abnutzung
  8.  

    A novel thermo-mechanical test method of fatigue characterization of real solder joints

    Metasch, R. / Roellig, M. / Wolter, K.J. | Tema Archiv | 2009
    Schlagwörter: Abnutzung
  9.  

    Comparison of standard UV test methods for the ageing of cables

    Robinson, James / Poulsen, Keld Veno / Högström, Pär-Anders et al. | Tema Archiv | 2011
    Schlagwörter: Abnutzung
  10.  

    Performance evaluation of thin-film technologies based on operating data

    Heesen, Henrik te | Tema Archiv | 2010
    Schlagwörter: Abnutzung
  11.  

    Life-time estimation of high-power blue light-emitting diode chips

    Kang, Jeung-Mo / Kim, Jae-Wook / Choi, Jeong-Hyeon et al. | Tema Archiv | 2009
    Schlagwörter: Abnutzung
  12.  

    Fuel cell vehicle learning demonstration: Study of factors affecting fuel cell degradation

    Kurtz, Jennifer / Wipke, Keith / Sprik, Sam | Tema Archiv | 2008
    Schlagwörter: Abnutzung
  13.  

    A modeling study of the effect of cathode delamination on SOFC performance

    DiGiuseppe, Gianfranco / Licon, Gladys Morin | Tema Archiv | 2008
    Schlagwörter: Abnutzung
  14.  

    Tolerance on spherical aberration, an experimental study with process windows

    Wang, Zhiyong / Zheng, Ping / Wu, Qiang | Tema Archiv | 2005
    Schlagwörter: Abnutzung
  15.  

    Study on Improvement of Transmission Torque for a Surface Permanent Magnet Type Magnetic Gear

    Oka, Masaru / Todaka, Takashi / Enokizono, Masato et al. | Tema Archiv | 2012
    Schlagwörter: Abnutzung
  16.  

    Lifetime modeling and simulation of power modules for hybrid electrical/electrical vehicles

    Thoben, M. / Sauerland, F. / Mainka, K. et al. | Tema Archiv | 2014
    Schlagwörter: Abnutzung
  17.  

    In-situ diagnostic tools for fuel cell performance and degradation

    Stumper, J. / Rahmani, R. / Fuss, F. | Tema Archiv | 2009
    Schlagwörter: Abnutzung
  18.  

    Observation of chip solder degradation by electrical measurements during power cycling

    Hartmann, Samuel / Bayer, Martin / Schneider, Daniel et al. | Tema Archiv | 2010
    Schlagwörter: Abnutzung

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