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Synonyme wurden verwendet für: Verschleiß

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Verwendete Synonyme:

  • abnutzung
  • mechanical wear
  • verschleissart
  • verschleissrate
  1.  

    Pannier. A Container-based Flash Cache for Compound Objects

    Li, Cheng / Shilane, Philip / Douglis, Fred et al. | TEMA | 2015
    Schlagwörter: Abnutzung
  2.  

    Mit Landkarte zum Ziel. Mit Strategietool BV-Systeme systematisch entwickeln

    Schmitt, Robert / Koßmann, Ulrich / Dietrich, Björn | TEMA | 2010
    Schlagwörter: Verschleißart
  3.  

    A long lifetime, low error rate RRAM design with self-repair module

    You, Zhiqiang / Hu, Fei / Huang, Liming et al. | TEMA | 2016
    Schlagwörter: Abnutzung
  4.  

    Lebenszykluskosten - neue Ergebnisse aus mehrjährigen Betriebserprobungen (Teil 2)

    Helwig, Elisabeth / Stephan, Arnd / Pupke, Frank | TEMA | 2017
    Schlagwörter: Verschleißrate
  5.  

    Prolonging Lifetime of PCM-Based Main Memories through On-Demand Page Pairing

    Asadinia, Marjan / Arjomand, Mohammad / Azad, Hamid Sarbazi | TEMA | 2015
    Schlagwörter: Abnutzung
  6.  

    Toss-up Wear Leveling: Protecting Phase-Change Memories from Inconsistent Write Patterns

    Zhang, Xian / Sun, Guangyu | TEMA | 2017
    Schlagwörter: Abnutzung
  7.  

    A dual-rail compact defect-tolerant multiplexer

    Ben Dhia, A. / Slimani, M. / Cai, H. et al. | TEMA | 2015
    Schlagwörter: Abnutzung
  8.  

    ETD-Cache. an expiration-time driven cache scheme to make SSD-based read cache endurable and cost-efficient

    Dai, Ningwei / Chai, Yunpeng / Liang, Yushi et al. | TEMA | 2015
    Schlagwörter: Abnutzung
  9.  

    Acceleration of potential-induced degradation (PID) by salt-mist preconditioning in c-Si photovoltaic modules

    Suzuki, Soh / Nishiyama, Naoki / Yoshino, Seiji et al. | TEMA | 2014
    Schlagwörter: Abnutzung
  10.  

    Qualification of 50 V GaN on SiC technology for RF power amplifiers

    Wel, P.J. van der / Roedle, T. / Lambert, B. et al. | TEMA | 2013
    Schlagwörter: Abnutzung
  11.  

    NAND Flash Memories

    Micheloni, Rino / Crippa, Luca | TEMA | 2017
    Schlagwörter: Abnutzung
  12.  

    Lebenszykluskosten von Fahrdrähten - Grundlagen und erste Ergebnisse

    Helwig, Elisabeth / Stephan, Arnd / Pupke, Frank | TEMA | 2016
    Schlagwörter: Verschleißrate
  13.  

    Screening for counterfeit electronic parts

    Sood, Bhanu / Das, Diganta / Pecht, Michael | TEMA | 2011
    Schlagwörter: Abnutzung
  14.  

    Les entretoises en polymeres, voisines preferees des cables

    Kluth, Andre | TEMA | 2009
    Schlagwörter: Abnutzung
  15.  

    Failure analysis of CuW/CuCrZr contact materials in capacitor bank switch

    Zhang, Qiao / Liang, Shuhua / Yang, Xiaohong et al. | TEMA | 2016
    Schlagwörter: mechanical wear
  16.  

    Arc erosion behavior and microstructure investigations of silver-based contact materials

    Selzner, Christian / Mücklich, Frank | TEMA | 2008
    Schlagwörter: Abnutzung
  17.  

    Detektion von Verschleißerscheinungen an Mittelspannungsvakuumschaltröhren durch die Messung der Lichtbogenbeweglichkeit mittels externer Magnetfeldsensoren

    Rettenmaier, Thomas / Hinrichsen, Volker / Lawall, Andreas et al. | TEMA | 2012
    Schlagwörter: Verschleißart
  18.  

    Exciton induced chemical reactions in organic light emitting devices

    Scholz, Sebastian / Meerheim, Rico / Lüssem, Björn et al. | TEMA | 2009
    Schlagwörter: Abnutzung
  19.  

    Photocurrent spectroscopy evidence for stress-induced recombination centres in quantum wells of InGaN/GaN-based light-emitting diodes

    Rigutti, L. / Castaldini, A. / Meneghini, M. et al. | TEMA | 2008
    Schlagwörter: Abnutzung
  20.  

    The LCA sampling method for varieties of wire and cables

    Ikehata, M. / Sugimoto, T. / Inamori, Y. et al. | TEMA | 2004
    Schlagwörter: Abnutzung
  21.  

    Ocena stopnia zawilgocenia olejow transformatorowych podczas eksploatacji

    Rogos, E. / Wojtowicz, M. | TEMA | 2005
    Schlagwörter: Abnutzung
  22.  

    Tolerance on spherical aberration, an experimental study with process windows

    Wang, Zhiyong / Zheng, Ping / Wu, Qiang | TEMA | 2005
    Schlagwörter: Abnutzung
  23.  

    Bewertung von Analyseverfahren zur Zustandsüberwachung einer Axialkolbenpumpe

    Torikka, Tapio | TIBKAT | 2011
    Schlagwörter: Verschleiß
  24.  

    SSDExplorer: A Virtual Platform for SSD Simulations

    Zuolo, Lorenzo / Zambelli, Cristian / Micheloni, Rino et al. | TEMA | 2017
    Schlagwörter: Abnutzung
  25.  

    Runtime management of adaptive MPSoCs for graceful degradation

    Tzilis, Stavros / Sourdis, Ioannis / Vasilikos, Vasileios et al. | TEMA | 2016
    Schlagwörter: Abnutzung
  26.  

    Entropy characterisation of overstressed capacitors for lifetime prediction

    Cuadras, Angel / Romero, Ramon / Ovejas, Victoria J. | TEMA | 2016
    Schlagwörter: Abnutzung
  27.  

    Carbon nanotube memory cell array program error analysis and tradeoff between reset voltage and verify pulses

    Ning, Sheyang / Iwasaki, Tomoko Ogura / Hachiya, Shogo et al. | TEMA | 2016
    Schlagwörter: Abnutzung
  28.  

    Reliability simulation for analog ICs: Goals, solutions, and challenges

    Toro-Frias, A. / Martin-Lloret, P. / Martin-Martinez, J. et al. | TEMA | 2016
    Schlagwörter: Abnutzung
  29.  

    Mean degradation rates in PV systems for various kinds of PV module failures

    Köntges, Marc / Altmann, Sascha / Heimberg, Tobias et al. | TEMA | 2016
    Schlagwörter: Abnutzung
  30.  

    Sensitivity analysis of smart grids reliability due to indirect cyber-power interdependencies under various DG technologies, DG penetrations, and operation times

    Hashemi-Dezaki, Hamed / Agah, Seyed Mohammad Mousavi / Askarian-Abyaneh, Hossein et al. | TEMA | 2016
    Schlagwörter: Abnutzung
  31.  

    Early roll defects detection in roughing mill

    Herbiet, Olivier / Moreas, Genevieve / Uijtdebroeks, Hugo et al. | TEMA | 2017
    Schlagwörter: Abnutzung
  32.  

    Selection of the battery pack parameters for an electric vehicle based on performance requirements

    Koniak, M. / Czerepicki, A. | TEMA | 2017
    Schlagwörter: Abnutzung
  33.  

    Physically-based evaluation of aging contributions in HC/FN-programmed 40 nm NOR Flash technology

    Torrente, Giulio / Coignus, Jean / Vernhet, Alexandre et al. | TEMA | 2017
    Schlagwörter: Abnutzung
  34.  

    Advanced power cycler with intelligent monitoring strategy of IGBT module under test

    Choi, U.M. / Blaabjerg, F. / Iannuzzo, F. | TEMA | 2017
    Schlagwörter: Abnutzung
  35.  

    Operational Capability of an Electric Pump Unit with New and Worn Rotor Wheels

    Ovchinnikov, N.P. | TEMA | 2017
    Schlagwörter: Abnutzung
  36.  

    SWANS. An Interdisk Wear-Leveling Strategy for RAID-0 Structured SSD Arrays

    Wang, Wei / Xie, Tao / Sharma, Abhinav | TEMA | 2016
    Schlagwörter: Abnutzung
  37.  

    ZnO film deposition by DC magnetron sputtering: Effect of target configuration on the film properties

    Arakelova, E. / Khachatryan, A. / Kteyan, A. et al. | TEMA | 2016
    Schlagwörter: Abnutzung
  38.  

    Evolutions of bonding wires used in semiconductor electronics: perspective over 25 years

    Gan, Chong-Leong / Hashim, U. | TEMA | 2015
    Schlagwörter: Abnutzung
  39.  

    Lifetime modeling and simulation of power modules for hybrid electrical/electrical vehicles

    Thoben, M. / Sauerland, F. / Mainka, K. et al. | TEMA | 2014
    Schlagwörter: Abnutzung
  40.  

    50 nm AlxOy resistive random access memory array program bit error reduction and high temperature operation

    Ning, Sheyang / Iwasaki, Tomoko Ogura / Takeuchi, Ken | TEMA | 2014
    Schlagwörter: Abnutzung
  41.  

    Assessment of Regional Energy System Failure Risks by Use of Wavelet Transform

    Svirina, Anna / Shindor, Olga | TEMA | 2017
    Schlagwörter: Abnutzung
  42.  

    Study on Improvement of Transmission Torque for a Surface Permanent Magnet Type Magnetic Gear

    Oka, Masaru / Todaka, Takashi / Enokizono, Masato et al. | TEMA | 2012
    Schlagwörter: Abnutzung
  43.  

    Sensor development and degradation effects for Acousto Ultrasonic applications using FEM simulations

    Schubert, L. / Roellig, M. / Lieske, U. et al. | TEMA | 2010
    Schlagwörter: Abnutzung
  44.  

    Comparison of standard UV test methods for the ageing of cables

    Robinson, James / Poulsen, Keld Veno / Högström, Pär-Anders et al. | TEMA | 2011
    Schlagwörter: Abnutzung

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