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METHOD AND LIGHT MICROSCOPE FOR LOCALIZING INDIVIDUAL EMITTERS IN A SAMPLE
Freier ZugriffEuropäisches Patentamt | 2024| -
Substrate for electrical circuits and method for producing a substrate of this type
Freier ZugriffEuropäisches Patentamt | 2021| -
Verfahren und Vorrichtung zur Positionsrekonstruktion von Halbleiterbauteilen auf einem Wafer
Freier ZugriffEuropäisches Patentamt | 2023| -
VERFAHREN, LICHTMIKROSKOP UND COMPUTERPROGRAMM ZUR LOKALISIERUNG ODER ZUM VERFOLGEN VON EMITTERN IN EINER PROBE
Freier ZugriffEuropäisches Patentamt | 2024| -
MEASURING TUBE, AND MEASURING TUBE FOR DETECTING AND/OR MONITORING AT LEAST ONE PROCESS VARIABLE OF A MEDIUM
Freier ZugriffEuropäisches Patentamt | 2020| -
ZUSTANDSÜBERWACHUNG FÜR GLEITLAGER MITTELS KÖRPERSCHALL
Freier ZugriffEuropäisches Patentamt | 2022| -
Vorrichtung zur Bestimmung und/oder Überwachung einer Prozessgröße
Freier ZugriffEuropäisches Patentamt | 2021| -
VERFAHREN UND LICHTMIKROSKOP ZUR LOKALISIERUNG EINZELNER EMITTER IN EINER PROBE
Freier ZugriffEuropäisches Patentamt | 2024| -
Condition monitoring for plain bearings by means of structure-borne noise
Freier ZugriffEuropäisches Patentamt | 2020| -
Substrate for electrical circuits and method for producing a substrate of this type
Freier ZugriffEuropäisches Patentamt | 2020| -
Verfahren, Lichtmikroskop und Computerprogramm zur Lokalisierung einzelner Emitter in einer Probe
Freier ZugriffEuropäisches Patentamt | 2023| -
VERFAHREN ZUM VERKAPSELN MINDESTENS EINES TRÄGERSUBSTRATS, ELEKTRONIKMODUL UND WERKZEUG ZUM VERKAPSELN EINES TRÄGERSUBSTRATS
Freier ZugriffEuropäisches Patentamt | 2020| -
MESSROHR UND MESSROHR ZUR BESTIMMUNG UND/ODER ÜBERWACHUNG ZUMINDEST EINER PROZESSGRÖßE EINES MEDIUMS
Freier ZugriffEuropäisches Patentamt | 2020| -
CONDITION MONITORING FOR PLAIN BEARINGS BY MEANS OF STRUCTURE-BORNE NOISE
Freier ZugriffEuropäisches Patentamt | 2021| -
ZUSTANDSÜBERWACHUNG FÜR GLEITLAGER MITTELS KÖRPERSCHALL
Freier ZugriffEuropäisches Patentamt | 2019|
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