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A posteriori error estimates for advanced Galerkin methods (Englisch)
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2017
- Hochschulschrift / Print
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Titel:A posteriori error estimates for advanced Galerkin methods
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Beteiligte:Rüter, Marcus ( Autor:in ) / Chen, Jiun-Shyan ( Akademische:r Betreuer:in ) / Nackenhorst, Udo ( Akademische:r Betreuer:in ) / Schröder, Jörg ( Akademische:r Betreuer:in ) / Stein, Erwin ( Akademische:r Betreuer:in ) / Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover ( Grad-verleihende Institution )
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Hochschulschrift:Habilitationsschrift, Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover ; 2017
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Erschienen in:F ; 17/3
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Verlag:
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Erscheinungsort:Hannover
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Erscheinungsdatum:2017
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Format / Umfang:XXIII, 266 Seiten
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Anmerkungen:Illustrationen, Diagramme
Überarbeitete Fassung im Springer-Verlag erschienen u.d.T. Error Estimates for Advanced Galerkin Methods. - ISBN 978-3-030-06173-9 -
Medientyp:Hochschulschrift
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Format:Print
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Klassifikation:
BKL: 50.03 Methoden und Techniken der Ingenieurwissenschaften -
Datenquelle:
