Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Bestimmung der Oberflächenbeschaffenheit von Bauteiloberflächen, insbesondere von Defekten, bei der mehrere Detektoren, die zur ortsaufgelösten spektralen Analyse elektromagnetischer Strahlung innerhalb eines Wellenlängenintervalls ausgebildet sind. Die Detektoren sind in einer Reihen oder einer Reihen- und Spaltenanordnung angeordnet und mit einer elektronischen Auswerteeinheit verbunden und so angeordnet, dass von einer breitbandigen Strahlungsquelle emittierte elektromagnetische Strahlung entweder nach einer Reflexion an der Oberfläche eines Bauteils, einer auf der Oberfläche eines Bauteils ausgebildeten Schicht oder nach dem Durchstrahlen eines für die elektromagnetische Strahlung transparenten Bauteils auf die Detektoren auftrifft. Mit den für einzelne Ortspunkte erfassten Messsignalen wird eine mehrdimensionale Abbildung der bestrahlten Fläche erstellt und eine Datenreduzierung durchgeführt, wodurch eine Aussage über die Oberflächenbeschaffenheit erreicht wird.
The invention relates to an arrangement for determining the surface quality of component surfaces, in particular defects, wherein a plurality of detectors are formed for spatially resolved spectral analysis of electromagnetic radiation within a wavelength interval. The detectors are arranged in rows or in a row and column arrangement and are connected to an electronic evaluation unit and arranged such that electromagnetic radiation emitted by a broadband radiation source either, after reflection on the surface of a component, a layer formed on the surface of a component, or after penetration of a component which is transparent for the electromagnetic radiation, impinges on the detectors. By means of the measurement signals detected for individual locations a multi-dimensional image of the irradiated surface is created and a data reduction is carried out, such that a conclusion about the surface quality is achieved.
L'invention concerne un ensemble pour la détermination de l'état de surface de surfaces d'éléments structuraux, en particulier de défauts, comprenant plusieurs détecteurs qui sont conçus pour l'analyse spectrale à résolution spatiale par rayonnement électromagnétique dans une plage de longeurs d'ondes. Les détecteurs sont agencés en rangées ou en rangées et en colonnes et sont reliés à une unité d'évaluation électronique et sont disposés de telle sorte que le rayonnement électromagnétique émis par une source de rayonnement à bande large frappe les détecteurs après une réflection sur la surface d'un élément structural, sur une couche réalisée sur la surface d'un élément structural ou après avoir traversé un élément structural transparent au rayonnement électromagnétique. Une image tridimensionnelle de la surface soumise au rayonnement est créée à l'aide des signaux de mesure détectés pour des points locaux individuels et une réduction de données est effectuée, de sorte qu'une information relative à l'état de surface est obtenue.