A New Approach for Modeling Inconsistencies in Digital-Assisted Analog Design (Englisch)
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In:
Journal of Electronic Testing
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32
, 4
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491-503
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2016
- Aufsatz (Zeitschrift) / Elektronische Ressource
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Titel:A New Approach for Modeling Inconsistencies in Digital-Assisted Analog Design
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Beteiligte:Uygur, Gürkan ( Autor:in ) / Sattler, Sebastian M. ( Autor:in )
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Erschienen in:Journal of Electronic Testing ; 32, 4 ; 491-503
-
Verlag:
- Neue Suche nach: Springer US
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Erscheinungsort:New York
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Erscheinungsdatum:01.08.2016
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Format / Umfang:13 pages
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ISSN:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 32, Ausgabe 4
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A New Approach for Modeling Inconsistencies in Digital-Assisted Analog DesignUygur, Gürkan / Sattler, Sebastian M. et al. | 2016