Screening for counterfeit electronic parts (Englisch)
- Neue Suche nach: Sood, Bhanu
- Neue Suche nach: Das, Diganta
- Neue Suche nach: Pecht, Michael
- Neue Suche nach: Sood, Bhanu
- Neue Suche nach: Das, Diganta
- Neue Suche nach: Pecht, Michael
In:
Journal of Materials Science - Materials in Electronics
;
22
, 10
;
1511-1522
;
2011
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ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Print
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Titel:Screening for counterfeit electronic parts
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Weitere Titelangaben:Überprüfung auf gefälschte Elektronikteile
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Beteiligte:
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Erschienen in:Journal of Materials Science - Materials in Electronics ; 22, 10 ; 1511-1522
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Verlag:
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Erscheinungsdatum:2011
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Format / Umfang:12 Seiten, 5 Bilder, 5 Tabellen, 16 Quellen
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ISSN:
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Coden:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Print
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 22, Ausgabe 10
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- 1509
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IntroductionKnauss, Lee et al. | 2011
- 1511
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Screening for counterfeit electronic partsSood, Bhanu / Das, Diganta / Pecht, Michael et al. | 2011
- 1523
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Failure localization with active and passive voltage contrast in FIB and SEMRosenkranz, Ruediger et al. | 2011
- 1536
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Innovative methodologies of circuit edit by focused ion beam (FIB) on wafer-level chip-scale-package (WLCSP) devicesLiu, Tao-Chi / Chen, Chih / Liu, Shih-Ting / Chang, Ming-Lun / Lin, Jandel et al. | 2011
- 1542
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Two-photon absorption laser assisted device alteration using continuous wave 1,340 nm laserNiu, Baohua / Pardy, Patrick / Fortier, Jerry / Ortega, Mel / Eiles, Travis et al. | 2011
- 1553
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Characterization of poly-Si thin-film solar cell functions and parameters with IR optical interaction techniquesBoostandoost, M. / Friedrich, F. / Kerst, U. / Boit, C. / Gall, S. / Yokoyama, Y. et al. | 2011
- 1580
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Extending acoustic microscopy for comprehensive failure analysis applicationsBrand, Sebastian / Czurratis, Peter / Hoffrogge, Peter / Temple, Dorota / Malta, Dean / Reed, Jason / Petzold, Matthias et al. | 2011
- 1594
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LA ICP-MS in microelectronics failure analysisPan, Zixiao / Wei, Wei / Li, Fuhe et al. | 2011
- 1602
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Conductive filament formation in printed circuit boards: effects of reflow conditions and flame retardantsSood, Bhanu / Pecht, Michael et al. | 2011
- 1616
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Disassembly methodology for conducting failure analysis on lithium–ion batteriesWilliard, Nick / Sood, Bhanu / Osterman, Michael / Pecht, Michael et al. | 2011