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A new method is devised to measure the temperature fluctuation in a current-carrying resistor. The spectrum of the temperature fluctuation is determined from the values of the resistance fluctuation, the variance fluctuation, and their product. It is found to be proportional to f1.1 and the temperature fluctuation amounts of 0.13K2 in the frequency range of 104-102 Hz. This agrees well with the calculated value of the equilibrium temperature fluctuation in the effective volume generating 1/f noise.