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Die Qualitätssicherung von PV-Modulen muss in aller Regel auf Stichproben basieren, die aus Lieferungen oder Lots gezogen werden. Ziel ist es primär, Lieferungen aufzudecken, die zu viele Module enthalten, die nicht den Anforderungen an die Modulleistung entsprechen. Die Anforderungen resultieren hierbei aus Vereinbarungen mit Abnehmern (Kunden) oder, bei interner Anwendung bei Herstellern und Händlern, aus selbstgesteckten Qualitätszielen zur Erreichung der Unternehmensziele. Die Qualitätsanforderungen können aus den technischen Spezifikationen über die Leistungsverteilung in den Anteil nicht-konformer Module (die Qualitätslage) umgerechnet werden. Dieser Anteil ist aus statistischer Sicht der relevante Parameter zur Konstruktion von Prüfverfahren. Er bestimmt insbesondere die Kosten von Ersatzlieferungen im Garantiefall. Das im Vorhaben gesteckte Ziel, varianzminimierende Prüfpläne für photovoltaische Leistungsmessungen zu entwickeln, konnte umfassend erreicht werden. Zugleich haben die umfangreichen Computersimulationen unsere Voreinschätzung erwiesen, dass es keine 1-zu-1 Übertragung von Literaturergebnissen zur Dichteschätzung, weder aus theoretischen noch aus Simulationsstudien, auf das Problem der Schätzung von Prüfplänen bei Vorliegen von Zusatzinformation gibt. Ferner hat sich gezeigt, dass zwar eine Reihe von Verfahren "nahezu optimal" ist, aber kein Verfahren gleichmäßig optimal ist, also in allen betrachteten Modellen und für alle analysierten Industriedatensätze optimal ist. Zusammenfassend kann festgestellt werden: Die besten in diesem Vorhaben neu entwickelten Verfahren führen zu deutlich verlässlicheren Prüfverfahren: Das bisherige Benchmark-Verfahren, das sog. modifizierte Verfahren, ist um bis zu 50% ungenauer als die neuen Spitzenreiter. Dies ist ein aus statistischer Sicht exzellenter Wert und auch praxisrelevat. Diese Verbesserung spiegelt sich i.W. in einer entsprechend kleineren Standardabweichung der (geschätzten) Prüfumfänge nieder. Somit steigt die Verlässlichkeit und Planungssicherheit der ermittelten Prüfpläne. Ferner können die Verfahren auf deutlich kleinere Flasher-Stichproben angewendet werden: Eine um 1/3 reduzierte Standardabweichung 1 bedeutet, dass für gleiche Genauigkeit mit Flasher-Stichproben gearbeitet werden kann, die nur 4/9 0.44 des ursprünglichen Umfangs betragen. Die Kernergebnisse konnten in hervorragenden statistischen Zeitschriften publiziert werden oder stehen zur Publikation an. Die im Vorhaben neu entwickelte Methodologie für Out-of-Spec-Planen erweitert substantiell die statistische Methodenwelt und erweitert die PV-spefizischen Verfahren der statistischen Qualitätssicherung auf eine praktisch relevante Situation. Die Out-of-Spec-Methodologie löst in praktisch umsetzbarer Weise eine Problematik, die von Reiten der Industrie an uns herangetragen wurde. Die Ergebnisse konnten in einem führenden interdisziplinären Journal der Photovoltaik-Forschung publiziert werden, welches besonderen Wert auf die wissenschaftliche Qualität und den praktischen Impact legt.