Du Bist, was du misst. Fluch und Segen der digitalen Selbstvermessung (Deutsch)
In:
IM + IO. Das Magazin für Innovation, Organisation und Management
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29
, 4
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14-17
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2014
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ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Print
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Titel:Du Bist, was du misst. Fluch und Segen der digitalen Selbstvermessung
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Erschienen in:IM + IO. Das Magazin für Innovation, Organisation und Management ; 29, 4 ; 14-17
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Verlag:
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Erscheinungsdatum:2014
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Format / Umfang:4 Seiten, Bilder, 5 Quellen
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ISSN:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Print
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Sprache:Deutsch
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Schlagwörter:
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 29, Ausgabe 4
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