Quantitative depth profile analysis of high-tc-superconductors with sputtered neutral mass spectrometry (snms (Englisch)
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In:
Fresenius' Zeitschrift für Analytische Chemie, Labor und Betriebsverfahren
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333
, 4/5
;
343-345
;
1989
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ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Print
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Titel:Quantitative depth profile analysis of high-tc-superconductors with sputtered neutral mass spectrometry (snms
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Weitere Titelangaben:Quantitative Tiefenprofilanalyse von Hochtemperatursupraleitern mit SNMS
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Beteiligte:Peters, H. ( Autor:in ) / Skoda, L. ( Autor:in ) / Crecelius, G. ( Autor:in ) / Adrian, H. ( Autor:in )
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Erschienen in:Fresenius' Zeitschrift für Analytische Chemie, Labor und Betriebsverfahren ; 333, 4/5 ; 343-345
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Verlag:
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Erscheinungsdatum:1989
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Format / Umfang:3 Seiten, 5 Bilder
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ISSN:
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DOI:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
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Format:Print
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Datenquelle:
Inhaltsverzeichnis – Band 333, Ausgabe 4/5
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Quantitative depth profile analysis of high-tc-superconductors with sputtered neutral mass spectrometry (snmsPeters, H. / Skoda, L. / Crecelius, G. / Adrian, H. et al. | 1989
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Analytical problems with ceramic materialsZiegler, G. et al. | 1989
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Self-diffusion in Mg2SiO4 (forsterite) at high temperature. a model case study for sims analyses on ceramics surfacesAndersson, K. / Borchardt, G. / Scherrer, S. / Weber, S. et al. | 1989
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