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Synonyme wurden verwendet für: Zuverlässigkeit
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Verwendete Synonyme:
- reliability
- technische zuverlassigkeit
- verlasslichkeit
-
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Elsevier | 2017|Schlagwörter: Reliability -
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Tema Archiv | 2007|Schlagwörter: Zuverlässigkeit, dielektrische Zuverlässigkeit -
A consistent model for the hard breakdown distribution including digital soft breakdown: the noble art of area scaling
Elsevier | 2007|Schlagwörter: Ultra-thin gate dielectrics reliability, Reliability modeling -
Influence of Stress-Induced Leakage Current on Reliability of HfSiO~x
British Library Conference Proceedings | 2007|Schlagwörter: Integrated reliability -
A comprehensive study of channel hot-carrier degradation in short channel MOSFETs with high-k dielectrics
Elsevier | 2012|Schlagwörter: Reliability -
Channel hot-carrier degradation in pMOS and nMOS short channel transistors with high-k dielectric stack
Elsevier | 2009|Schlagwörter: Reliability -
The defect-centric perspective of device and circuit reliability—From gate oxide defects to circuits
Elsevier | 2016|Schlagwörter: Reliability -
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Online Contents | 1999|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
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British Library Conference Proceedings | 2001|Schlagwörter: reliability physics, reliability -
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British Library Conference Proceedings | 2001|Schlagwörter: reliability physics, reliability -
Ultra-thin oxide reliability: searching for the thickness scaling limit
Online Contents | 2000|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
A new statistical model for fitting bimodal oxide breakdown distributions at different field conditions
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New insights into the wide ID range channel hot-carrier degradation in high-k based devices
Tema Archiv | 2009|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
A new analytic model for the description of the intrinsic oxide breakdown statistics of ultra-thin oxides
Online Contents | 1996|Schlagwörter: Zuverlässigkeit -
From Micro Breakdown to Hard Breakdown - from Artifact to Destructive Failure?
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Measurement and statistical analysis of single trap current-voltage characteristics in ultrathin SiON
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Hot carrier degradation on n-channel HfSiON MOSFETs: Effects on the device performance and lifetime
British Library Conference Proceedings | 2005|Schlagwörter: Reliability physics -
Trap generation and progressive wearout in thin HfSiON
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Disorder-controlled-kinetics model for negative bias temperature instability and its experimental verification
British Library Conference Proceedings | 2005|Schlagwörter: Reliability physics -
A Fast and Simple Methodology for Lifetime Prediction of Ultra-thin Oxides
British Library Conference Proceedings | 1999|Schlagwörter: reliability physics
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