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Synonyme wurden verwendet für: Halbleitersubstrat
Suche ohne Synonyme: keywords:(Halbleitersubstrat)
Verwendete Synonyme:
- semiconductor substrate
- semiconductor wafers
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British Library Conference Proceedings | 2009|Schlagwörter: Semiconductor wafers -
Variations in timing and leakage power of 45nm library cells due to lithography and stress effects [7275-21]
British Library Conference Proceedings | 2009|Schlagwörter: Semiconductor wafers -
In-design process hotspot repair using pattern matching [8327-27]
British Library Conference Proceedings | 2012|Schlagwörter: Semiconductor wafers -
Layout electrical cooptimization for increased tolerance to process variations [7275-37]
British Library Conference Proceedings | 2009|Schlagwörter: Semiconductor wafers -
Analysis, quantification, and mitigation of electrical variability due to layout dependent effects in SOC designs [8327-14]
British Library Conference Proceedings | 2012|Schlagwörter: Semiconductor wafers -
Analysis of layout-dependent context effects on timing and leakage in 28nm [8327-17]
British Library Conference Proceedings | 2012|Schlagwörter: Semiconductor wafers -
Electrical design for manufacturability and lithography and stress variability hotspot detection flows at 28nmn [8327-40]
British Library Conference Proceedings | 2012|Schlagwörter: Semiconductor wafers -
In-design hierarchical DFM closure for DFM-clean IP [8327-31]
British Library Conference Proceedings | 2012|Schlagwörter: Semiconductor wafers -
Context-specific leakage and delay analysis of a 65nm standard cell library for lithography-induced variability [6521-13]
British Library Conference Proceedings | 2007|Schlagwörter: Semiconductor wafers -
Microprocessor chip timing analysis using extraction of simulated silicon-calibrated contours [6925-23]
British Library Conference Proceedings | 2008|Schlagwörter: Semiconductor wafers -
Automated full-chip hotspot detection and removal flow for interconnect layers of cell-based designs [6521-10]
British Library Conference Proceedings | 2007|Schlagwörter: Semiconductor wafers -
Model-based approach for design verification and co-optimization of catastrophic and parametric-related defects due to systematic manufacturing variations [6521-12]
British Library Conference Proceedings | 2007|Schlagwörter: Semiconductor wafers
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