Erscheinungsjahr
Medientyp
Datenquelle
Fach
- ‹ Alle Fächer
- Informatik (543)
- Physik (145)
- Chemie (116)
- Technik (83)
- Elektrotechnik (72)
- Werkstoffkunde (69)
- Maschinenbau, Energietechnik (59)
- Mathematik (29)
- Erziehungswissenschaften (23)
- Biowissenschaften, Biologie (10)
- Chemische und Umwelttechnik (4)
- Geowissenschaften, Geographie (4)
- Architektur (3)
- Medizin (3)
- Wirtschaftswissenschaften (3)
- Geschichte (2)
- Medizintechnik (2)
- Weitere Fächer (2)
- Sprachwissenschaften (1)
- Literaturwissenschaften (1)
- Verkehrstechnik, Verkehrswesen (1)
Format
Sprache
Synonyme wurden verwendet für: Rasterkraftmikroskopie
Suche ohne Synonyme: keywords:(Rasterkraftmikroskopie)
Verwendete Synonyme:
- afm
- atomic force microscopy
- atomic force microscopy study
- atomkraftmikroskopie
- kraftmikroskopie
- raster kraft mikroskopie
- rkm
- scanning force microscopy
- sfm
-
Probe modification for scanning-probe microscopy by the focused ion beam method
Online Contents | 2012|Schlagwörter: Atomic Force Microscopy Image, Atomic Force Microscopy -
Robust classification of biological samples in atomic force microscopy images via multiple filtering cooperation
Elsevier | 2017|Schlagwörter: Atomic force microscopy -
Probe modification for scanning-probe microscopy by the focused ion beam method
Springer Verlag | 2012|Schlagwörter: Atomic Force Microscopy, Atomic Force Microscopy Image -
Expanded area metrology for tip-based wafer inspection in the nanomanufacturing of electronic devices
SPIE | 2019|Schlagwörter: atomic force microscopy -
Features of the Manufacturing Process of Silicon Needles for Cantilevers
Springer Verlag | 2022|Schlagwörter: atomic force microscopy -
Formation of partially reversible nanostructures in Ni40Ti60thin films by focused electron beam irradiation
SPIE | 2021|Schlagwörter: atomic force microscopy -
Exfoliation of high-quality graphene in volatile and nonvolatile solvents
Online Contents | 2017|Schlagwörter: Atomic force microscopy -
High-speed atomic force microscopy studies of 193-nm immersion photoresists during tetramethylammonium hydroxide development
SPIE | 2018|Schlagwörter: high-speed atomic force microscopy -
Wear comparison of critical dimension-atomic force microscopy tips
SPIE | 2020|Schlagwörter: critical dimension-atomic force microscopy -
Study of Ion Beam Including Deposition Modes of Platinum Nanosized Structures Using by Focused Ion Beams
Online Contents | 2017|Schlagwörter: atomic force microscopy -
Cartographic method of surface characteristics analysis
Online Contents | 2016|Schlagwörter: atomic force microscopy -
Atomic force microscopy study of photoresist sidewall smoothing and line edge roughness transfer during gate patterning
SPIE | 2013|Schlagwörter: atomic force microscopy -
Optical field-induced surface-relief micropatterning of amorphous chalcogenide thin films
SPIE | 2015|Schlagwörter: atomic force microscopy -
Molecular modelling to understand AFM tip functionalisation and imazaquin-AHAS interactions in order to design a new nanobiosensor
Taylor & Francis Verlag | 2019|Schlagwörter: atomic force Microscopy (AFM) -
Methods for Studying Materials and Structures in Electronics as Applied to the Development of Medicinal Endoprostheses of Titanium with Enhanced Fibroinegration Efficiency
Springer Verlag | 2018|Schlagwörter: atomic force microscopy -
Double-Tip Artifact Removal From Atomic Force Microscopy Images
Online Contents | 2016|Schlagwörter: Atomic force microscopy, Atomic Force Microscopy -
Effects of resist sidewall morphology on line-edge roughness reduction and transfer during etching: is the resist sidewall after development isotropic or anisotropic?
SPIE | 2010|Schlagwörter: atomic force microscopy -
Contour metrology using critical dimension atomic force microscopy
SPIE | 2016|Schlagwörter: critical dimension atomic force microscopy -
Modification of the positive photoresist surface by ion implantation
Online Contents | 2015|Schlagwörter: Atomic Force Microscopy Method
Meine Suche schicken an (beta)
Schicken Sie ihre Suchanfrage (Suchterm ohne Filter) an andere Datenbanken, Portale und Kataloge, um ggf. weitere interessante Treffer zu finden:
Dimensions ist eine Datenbank für Abstracts und Zitate, die Informationen zu Forschungsförderungen mit daraus resultierenden Veröffentlichungen, Studien und Patenten verknüpft.
Im TIB AV-Portal können audiovisuelle Medien aus Wissenschaft und Lehre recherchiert und eigene wissenschaftliche Videos publiziert werden.
Im FID move kann nach fachspezifischer Literatur, Forschungsdaten und weitere Informationen aus der Mobilitäts- und Verkehrsforschung gesucht werden.
Der Open Research Knowledge Graph liefert strukturiert beschriebene Forschungsinhalte und macht diese vergleichbar.
Frei zugänglicher Ausschnitt der Verbunddatenbank K10plus des GBV und des SWB mit für die Fernleihe und Direktlieferdienste relevanten Materialien.