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Continuous refractive index dispersion measurement based on derivative total reflection method
American Institute of Physics | 2015| -
Two-dimensional scanning focused refractive-index microscopy and applications to refractive-index profiling of optical fibers
American Institute of Physics | 2015| -
Scaling studies of H-mode pedestal characteristics on Experimental Advanced Superconducting Tokamak
American Institute of Physics | 2016| -
Analysis of pedestal gradient characteristic on the Experimental Advanced Superconducting Tokamak
American Institute of Physics | 2016| -
Nanogranular SiO2 proton gated silicon layer transistor mimicking biological synapses
American Institute of Physics | 2016| -
Decoupled scenario between the conductive carriers and the ferromagnetism in epitaxial Zn0.85−xMgxCo0.15O thin films
American Institute of Physics | 2014|
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