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Thickness dependence of Young's modulus and residual stress of sputtered aluminum nitride thin films
American Institute of Physics | 2014| -
Generalized solutions to Protter problems for 3-D Keldysh type equations
American Institute of Physics | 2014| -
Monte Carlo operators for ions interacting with radio frequency waves
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2005| -
Magnetization loops of submicron ferromagnetic permalloy dot arrays
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 1999| -
Flat field anomalies in an x-ray charge coupled device camera measured using a Manson x-ray source
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2008| -
On uniqueness of quasi-regular solutions to Protter problem for Keldish type equations
American Institute of Physics | 2013| -
Lorentz microscopy of circular ferromagnetic permalloy nanodisks
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2000| -
Magnetic switching of single vortex permalloy elements
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2001| -
Impact of annealing temperature on the mechanical and electrical properties of sputtered aluminum nitride thin films
American Institute of Physics | 2015| -
Magnetic and microstructural properties of sputter deposited Cr-doped aluminum nitride thin films on silicon substrates
Freier ZugriffAmerican Institute of Physics | 2017| -
Enhanced ferromagnetic damping in Permalloy/Cu bilayers
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2006| -
Laser Doppler measurement of turbulence parameters in a two‐dimensional plane wall jet
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 1994| -
Quasi-regular solutions to a class of 3D degenerating hyperbolic equations
American Institute of Physics | 2012| -
Impact of layer and substrate properties on the surface acoustic wave velocity in scandium doped aluminum nitride based SAW devices on sapphire
American Institute of Physics | 2016| -
Analysis of failure mechanisms in electrically stressed Au nanowires
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 1999| -
Dynamic anisotropy of thin Permalloy films measured by use of angle-resolved pulsed inductive microwave magnetometry
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2005| -
Background removal in scanning tunneling spectroscopy of single atoms and molecules on metal surfaces
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2008| -
Finite coplanar waveguide width effects in pulsed inductive microwave magnetometry
NationallizenzAmerican Institute of Physics | 2004|
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