Seite 1 von 81.254 Ergebnissen

Sortieren nach: Relevanz | Aktualität | Titel

  1.  

    Zeitschrift für analytische Chemie

    TIBKAT | 1.1862 - 127.1944/45,7/10
  2.  

    Extinction coefficients of hydroxyl- and deuteroxyl groups on silica and alumina

    Baumgarten, E. / Wagner, R. / Lentes-wagner, C. | Tema Archiv | 1989
  3.  

    Factor analysis of aes depth profiles on Si3N4 ceramic powders

    Bubert, H. / Jenett, H. | Tema Archiv | 1989
  4.  

    A simple clean-up procedure for the quantitative determination of PCBs in complex materials

    Roerden, O. / Reisinger, K. / Leymann, W. et al. | Tema Archiv | 1989
  5.  

    Trace analysis of gallium arsenide by graphite furnace AAS

    Beinrohr, E. / Gergely, S. / Izak, J. | Tema Archiv | 1988
  6.  

    Trace element analysis by laser plasma mass spectrometrie

    Jochum, K.P. / Matus, L. / Seufert, H.M. | Tema Archiv | 1988
  7.  

    Quantitative analysis of impurities in silicide layers with SIMS

    Avau, D. / Vandervorst, W. / Maes, H.E. | Tema Archiv | 1987
  8.  

    Neue Methode zur quantitativen Analyse von AES-Spektren

    Puchhammer, M. / Riahi, A. / Stoeri, H. | Tema Archiv | 1987
  9.  

    SIMS analysis of poorly conducting surfaces

    Borchardt, G. / Scherrer, S. / Weber, S. | Tema Archiv | 1987
  10.  

    Vergleichende Analyse von LEED- und Roentgentexturhalbwertsbreiten

    Gebhardt, R. / Lang, M. / Wissmann, P. | Tema Archiv | 1987

Ergebnisse anzeigen: 10 | 20 | 50