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Instrument-related geometrical factors affecting the intensity in XPS and ARXPS experiments
Online Contents | 2011| -
Effect of monochromator X-ray Bragg reflection on photoelectric cross section
British Library Online Contents | 2010| -
Effect of monochromator X-ray Bragg reflection on photoelectric cross section
Online Contents | 2010| -
Structure of Ultra-Thin Diamond-Like Carbon Films Grown with Filtered Cathodic Arc on Si(001)
Online Contents | 2010| -
Thermal stability of nitrogen in nitrided HfSiO2-SiO2-Si(001) ultrathin films
Online Contents | 2008| -
Resolving overlapping peaks in ARXPS data: The effect of noise and fitting method
British Library Online Contents | 2012| -
Physics of high-intensity nanosecond electron source: Charge limit phenomenon in GaAs photocathodes
Online Contents | 1996|
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