Das XIII. Messtechnische Symposium in Hannover als Fenster zur aktuellen Forschung (German)
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In:
TECHNISCHES MESSEN
;
67
;
143
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2000
-
ISSN:
- Article (Journal) / Print
-
Title:Das XIII. Messtechnische Symposium in Hannover als Fenster zur aktuellen Forschung
-
Contributors:Garbe, H. ( author )
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Published in:TECHNISCHES MESSEN ; 67 ; 143
-
Publisher:
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-
Publication date:2000-01-01
-
Size:143 pages
-
ISSN:
-
Type of media:Article (Journal)
-
Type of material:Print
-
Language:German
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DDC: 681.2 -
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Table of contents – Volume 67
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- 3
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Editorial - Frühere Bad Nauheimer Sensortagung: dieses Jahr erstmals in Ludwigsburg - Tagung "Sensoren und Messsysteme 2000" vom 13. bis 14. März 2000 in LudwigsburgGerlach, G. et al. | 2000
- 3
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Fruhere Bad Nauheimer Sensortagung: dieses Jahr erstmals in Ludwigsburg; Tagung,,Sensoren und Messsysteme 2000" vom 13. bis 14. Marz 2000 in LudwigsburgGerlach, G. / Mesch, F. et al. | 2000
- 5
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Prazisions-Effektivwertmessung nach der,,Monte-Carlo-Methode"; Precision RMS Measurement using the Monte Carlo MethodGermer, H. / Barnet, U. et al. | 2000
- 5
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Präzisions-Effektivwertmessung nach der 'Monte-Carlo-Methode'Germer, H. / Barnet, U. et al. | 2000
- 5
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Papers - Precision RMS Measurement using the Monte Carlo MethodGermer, H. et al. | 2000
- 10
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Papers - Grazing Incidence Interferometry using Diffractive Optical Elements for the Shape Measurement of the Mantle Surface of Rod-shaped Objects I: Measuring Principle and TheoryBrinkmann, S. et al. | 2000
- 10
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Streifende-Inzidenz-Interferometrie mit diffraktiven Elementen für die Formmessung von Mantelflächen stabförmiger Objekte. I: Meßprinzip und TheorieBrinkmann, S. / Dresel, T. / Schreiner, R. / Schwider, J. et al. | 2000
- 10
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Streifende-Inzidenz-Interferometrie mit diffraktiven Elementen fur die Formmessung von Mantelflachen stabformiger Objekte I: Messprinzip und Theorie; Grazing Incidence Interferometry using Diffractive Optical Elements for the Shape Measurement of the Mantle Surface of Rod-shaped Objects I: Measuring Principle and TheoryBrinkmann, S. / Dresel / Schreiner, R. / Schwider, J. et al. | 2000
- 20
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Papers - Dynamic Measurements using a Laserinterferometer working with Polarized LightLemke, K. et al. | 2000
- 20
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Dynamische Messungen mit einem polarisationsoptischen Laserinterferometer; Dynamic Measurements using a Laserinterferometer working with Polarized LightLemke, K. / Plagwitz, K. U. / Henke, S. et al. | 2000
- 20
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Dynamische Messungen mit einem polarisationsoptischen LaserinterferometerLemke, K. / Plagwitz, K.U. / Henke, S. et al. | 2000
- 27
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Thermisch durchstimmbare monolithische Miniatur-Festkorperlaser fur die interferometrische Messtechnik; Thermal Tunable Monolithic Miniature Solid State Lasers for Interferometric MeasuringBrauer, T. / Salewski, K. D. et al. | 2000
- 27
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Papers - Thermal Tunable Monolithic Miniature Solid State Lasers for Interferometric MeasuringBräuer, T. et al. | 2000
- 27
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Thermisch durchstimmbare monolithische Miniatur-Festkörperlaser für die interferometrische MeßtechnikBräuer, T. / Salewski, K.D. et al. | 2000
- 34
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Papers - Depths of Immersion in Thermal SystemsKlasmeier, P. et al. | 2000
- 34
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Eintauchtiefen in thermische SystemeKlasmeier, P. et al. | 2000
- 34
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Eintauchtiefen in thermische Systeme; Depths of Immersion in Thermal SystemsKlasmeier, P. et al. | 2000
- 38
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Bewertung von Einflussgrößen bei Schwingungsuntersuchungen an FaserverbundbauteilenBerning, Frank et al. | 2000
- 38
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Papers - Evaluation of Influencing Variables at Vibration Analyses of Fibre Composite PartsBerning, F. et al. | 2000
- 38
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Bewertung von Einflußgrößen bei Schwingungsuntersuchungen an FaserverbundbauteilenBerning, F. et al. | 2000
- 38
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Bewertung von Einflussgrossen bei Schwingungsuntersuchungen an Faserverbundbauteilen; Evaluation of Influencing Variables at Vibration Analyses of Fibre Composite PartsBerning, F. et al. | 2000
- 46
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Columns - Product Information| 2000
- 48
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Columns - Events Calendar| 2000
- 51
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F&E-Institute und strategisches Marketing?Rein, D. et al. | 2000
- 51
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Editorial - F&E-Institute und strategisches Marketing?Rein, D. et al. | 2000
- 52
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Kohärenzradar - ein 3D-Sensor im Genauigkeitsbereich von 1µmEttl, Peter / Habermeier, Hans-Peter / Häusler, G. et al. | 2000
- 52
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Coherence Radar - a 3D Sensor with 1 mum AccuracyEttl, P. / Habermeier, H. P. / Hausler, G. et al. | 2000
- 52
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Papers - Coherence Radar - A 3D Sensor with 1 mm AccuracyEttl, R. et al. | 2000
- 52
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Kohärenzradar - ein 3D-Sensor im Genauigkeitsbereich von 1 MikrometerEttl, P. / Habermeier, H.P. / Häusler, G. et al. | 2000
- 58
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Grundlagen zur industriellen Einsetzbarkeit des KohärenzradarsBlossey, S. et al. | 2000
- 58
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Grundlagen zur industriellen Einsetzbarkeit des KohärenzradarBlossey, Stefan et al. | 2000
- 58
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Fundamentals for the Industrial Applicability of the Coherence RadarBlossey, S. et al. | 2000
- 58
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Papers - Fundamentals for the Industrial Applicability of the Coherence RadarBlossey, S. et al. | 2000
- 63
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Integrated Optical Sensor for the Coherence Radar SystemMartiny, I. / Wicht, B. et al. | 2000
- 63
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Integrierter Bildaufnehmer für das KohärenzradarMartiny, I. / Wicht, B. et al. | 2000
- 63
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Papers - Integrated Optical Sensor for the Coherence Radar SystemMartiny, I. et al. | 2000
- 71
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Method for Estimating and Correcting the Bias of the LDA Measurements with or without Direction DetectionShu, W.-Q. et al. | 2000
- 71
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Papers - Method for Estimating and Correcting the Bias of the LDA Measurements with or without Direction DetectionShu, W.-Q. et al. | 2000
- 71
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Schätz- und Korrekturverfahren des Biasfehlers der LDA-Messungen mit oder ohne RichtungserkennungShu, Wei-Qun et al. | 2000
- 75
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Best Fit of Geometrical Elements and Bore Pattern with Defined Tolerance ZonesLotze, W. et al. | 2000
- 75
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Papers - Best Fit of Geometrical Elements and Bore Pattern with Defined Tolerance ZonesLotze, W. et al. | 2000
- 75
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Besteinpassung von geometrischen Formelementen und Bohrbildern mit definierten ToleranzzonenLotze, W. et al. | 2000
- 81
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Streifende-Inzidenz-Interferometrie mit diffraktiven Elementen für die Formmessung von Mantelflächen stabförmiger Objekte II: Experimente und FehlerdiskussionBrinkmann, S. / Dresel, T. / Schreiner, R. / Schwider, J. et al. | 2000
- 81
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Papers - Grazing Incidence Interferometry Using Diffractive Optical Elements for the Shape Measurement of the Mantle Surface of Rod-shaped Objects II: Experiments and Error AssessmentBrinkmann, S. et al. | 2000
- 81
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Grazing Incidence Interferometry Using Diffractive Optical Elements for the Shape Measurement of the Mantle Surface of Rod-shaped Objects II: Experiments and Error AssessmentBrinkmann, S. / Dresel, T. / Schreiner, R. / Schwider, J. et al. | 2000
- 99
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Editorial - Wavelets: Simply a Gag or a Useful Technology?Best, R. et al. | 2000
- 99
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Wavelets: Simply a Gag or a Useful Technology?Best, R. et al. | 2000
- 100
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Wavelets: An Introduction for Potential Users, Part 1Best, R. et al. | 2000
- 100
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Wavelets: Eine praxisorientierte Einführung mit Beispielen. Teil 1Best, R. et al. | 2000
- 100
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Papers - Wavelets An Introduction for Potential Users, Part 1Best, R. et al. | 2000
- 104
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PDA Measurements of Evaporating Inhomogeneous Droplets Trapped in an Acoustic LevitatorWeinberg, W. / Mitschke, M. / Wriedt, T. / Bauckhage, K. et al. | 2000
- 104
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PDA-Messungen an akustisch levitierten verdampfenden und inhomogenen TropfenWeinberg, W. / Mitschke, M. / Wriedt, T. / Bauckhage, K. et al. | 2000
- 104
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Papers - PDA Measurements of Evaporating Inhomogeneous Droplets Trapped in an Acoustic LevitatorWeinberg, W. et al. | 2000
- 111
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Statistischer Fehler der Mittenfrequenzmessung am Beispiel von Laser-Doppler-SignalenCzarske, J. et al. | 2000
- 111
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Papers - Statistical Measuring Error of the Centre Frequency of Laser Doppler SignalsCzarske, J. et al. | 2000
- 111
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Statistical Measuring Error of the Centre Frequency of Laser Doppler SignalsCzarske, J. et al. | 2000
- 121
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Drehzahlmessung mit HalbleiterlasernThiessen, Rainer et al. | 2000
- 121
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Measurement of the Speed of Rotation with Semiconductor LasersThiessen, R. et al. | 2000
- 121
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Papers - Measurement of the Speed of Rotation with Semiconductor LasersThiessen, R. et al. | 2000
- 128
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Application of Filters in the Evaluation of Measured Surface ProfilesHernla, M. et al. | 2000
- 128
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Papers - Application of Filters in the Evaluation of Measured Surface ProfilesHernla, M. et al. | 2000
- 128
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Anwendung von Filtern bei der Auswertung gemessener OberflächenprofileHernla, M. et al. | 2000
- 136
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Columns - Events| 2000
- 136
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Columns - Literature| 2000
- 140
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Events Calendar| 2000
- 143
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Das XIII. Messtechnische Symposium in Hannover als Fenster zur aktuellen ForschungGarbe, H. et al. | 2000
- 143
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Editorial - Das XIII. Messtechnische Symposium in Hannover als Fenster zur aktuellen ForschungGarbe, H. et al. | 2000
- 144
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Mikromechanischer Positionssensor Micromechanical Scanning DeviceManthey, W. / Wolf, K. / Ahl, E. / Knofler, R. / Bertz, A. et al. | 2000
- 144
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Papers - Micromechanical Scanning DeviceManthey, W. et al. | 2000
- 144
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Mikromechanischer PositionssensorManthey, W. / Wolf, K. / Ahl, E. / Knöfler, R. / Bertz, A. et al. | 2000
- 150
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Laufzeit-Korrelationsverfahren zur schlupffreien Geschwindigkeitsmessung von SchienenfahrzeugenEngelberg, T. et al. | 2000
- 150
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Laufzeit-Korrelationsverfahren zur schlupffreien Geschwindigkeitsmessung von Schienenfahrzeugen Transit Time Correlation for Slip-Free Speed Measurement of Rail VehiclesEngelberg, T. et al. | 2000
- 150
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Papers - Transit Time Correlation for Slip-Free Speed Measurement of Rail VehiciesEngelberg, Th et al. | 2000
- 155
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Räumliche Phase-Shifting-Speckle-Interferometrie mit vier KamerasJakobi, M. / Evanschitzky, P. / Koch, A.W. et al. | 2000
- 155
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Papers - Spatial Phase-Shifting Speckle Interferometry using Four CamerasJakobi, M. et al. | 2000
- 155
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Raumliche Phase-Shifting-Speckle-Interferometrie mit vier Kameras Spatial Phase-Shifting Speckle Interferometry using Four CamerasJakobi, M. / Evanschitzky, P. / Koch, A. W. et al. | 2000
- 160
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Papers - Flaw Tracking in a Sequence of Digital X-Ray Images: A New Method of Automated Quality Control of CastingsMery, D. et al. | 2000
- 160
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Verfolgung von Gussfehlern in einer digitalen Röntgenbildsequenz: eine neue Methode zur Automatisierung der Qualitätskontrolle von GussteilenMery, Domingo / Filbert, Dieter et al. | 2000
- 160
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Verfolgung von Gussfehlern in einer digitalen Rontgenbildsequenz: eine neue Methode zur Automatisierung der Qualitatskontrolle von Gussteilen Flaw Tracking in a Sequence of Digital X-Ray Images: a New Method of Automated Quality Control of CastingsMery, D. / Filbert, D. et al. | 2000
- 166
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Papers - Dynamical Temperature Compensation of Precision InstrumentsFröhlich, T. et al. | 2000
- 166
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Dynamische Temperaturkompensation von PräzisionsmessgerätenFröhlich, T. / Jäger, G. et al. | 2000
- 166
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Dynamische Temperaturkompensation von Prazisionsmessgeraten Dynamical Temperature Compensation of Precision InstrumentsFrohlich, T. / Jager, G. et al. | 2000
- 171
-
Papers - Calibration-Free Temperature Measurement using Parameter Extraction from the P-N Junction Current-Voltage CharacteristicKanoun, O. et al. | 2000
- 171
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Kalibrationsfreie Temperaturmessung durch Parameterextraktion aus der Strom-Spannungs-Kennlinie von pn-ÜbergängenKanoun, O. / Tränkler, H.R. et al. | 2000
- 171
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Kalibrationsfreie Temperaturmessung durch Parameterextraktion aus der Strom-Spannungs-Kennlinie von pn-Ubergangen Calibration-Free Temperature Measurement using Parameter Extraction from the P-N Junction Current-Voltage CharacteristicKanoun, O. / Trankler, H. R. et al. | 2000
- 177
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Papers - Methods to Measure Small Capacitances with High ResolutionFranz, J. et al. | 2000
- 177
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Verfahren zur Messung kleiner Kapazitäten mit hoher AuflösungFranz, J. et al. | 2000
- 177
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Verfahren zur Messung kleiner Kapazitaten mit hoher Auflosung Methods to Measure Small Capacitances with High ResolutionFranz, J. et al. | 2000
- 182
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Wavelets: Eine praxisoriente Einführung mit Beispielen, Teil 2Best, R. et al. | 2000
- 182
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Wavelets: Eine praxisorientierte Einfuhrung mit Beispielen, Teil 2 Wavelets: An Introduction for Potential Users, Part 2Best, R. et al. | 2000
- 182
-
Papers - Wavelets: An Introduction for Potential Users, Part 2Best, R. et al. | 2000
- 195
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Measurement and Control in the Course of TimeWeschenfelder, D. et al. | 2000
- 195
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Editorial - Measurement and Control in the Course of TimeWeschenfelder, D. et al. | 2000
- 196
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Ereignisgesteuerte Wartung von pH-MesseinrichtungenMelzer, W. / Lauer, C. / Stieler, S. et al. | 2000
- 196
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pH-Measurement with Condition-Based Maintenance-RequestMelzer, W. / Lauer, C. / Stieler, S. et al. | 2000
- 196
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Papers - pH-Measurement with Condition-Based Maintenance-RequestMelzer, W. et al. | 2000
- 201
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Prozesskontrolle mittels UltraschallZips, A. et al. | 2000
- 201
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Process Control with Ultrasonic MeasurementsZips, A. et al. | 2000
- 201
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Papers - Process Control with Ultrasonic MeasurementsZips, A. et al. | 2000
- 208
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Puls-Radar for mm-Precision in Level MeasurementHeim, M. et al. | 2000
- 208
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Puls-Radar zur mm-genauen FüllstandsmessungHeim, M. et al. | 2000
- 208
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Papers - Puls-Radar for mm-Precision in Level MeasurementHeim, M. et al. | 2000
- 214
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Neuartiges Radar-Füllstand-Messgerät auf Basis von 24-GHz-TechnologieOreans, L. / Heide, P. et al. | 2000
- 214
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Novel Radar Level Gauge Using 24-GHz-TechnologyOreans, L. / Heide, P. et al. | 2000
- 214
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Papers - Novel Radar Level Gauge Using 24-GHz-TechnologyOréans, L. et al. | 2000
- 220
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Papers - Characteristics of Universal Limit Switches for LiquidsRompf, C. et al. | 2000
- 220
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Anforderungen an universelle Grenzschalter für FlüssigkeitenRompf, C. et al. | 2000
- 220
-
Characteristics of Universal Limit Switches for LiquidsRompf, C. et al. | 2000
- 228
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Papers - Bimorphic Gas SensorsBuchhold, R. et al. | 2000
- 228
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Bimorphic Gas SensorsBuchhold, R. / Gerlach, G. et al. | 2000
- 228
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Bimorphe GassensorenBuchhold, R. / Gerlach, G. et al. | 2000
- 233
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Papers - Wavelets: An Introduction for Potential Users, Part 3Best, R. et al. | 2000
- 233
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Wavelets: An Introduction for Potential Users, Part 3Best, R. et al. | 2000
- 233
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Wavelets: Eine praxisoreintierte Einführung mit Beispeilen, Teil 3Best, R. et al. | 2000
- 249
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Papers - Pulsed Photoacoustic Effect in LiquidsSchlosser, U. et al. | 2000
- 249
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Pulsed Photoacoustic Effect in LiquidsSchlosser, U. / Bahners, T. / Schollmeyer, E. et al. | 2000
- 249
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Der gepulste photoakustische Effekt in FlüssigkeitenSchloßer, U. / Bahners, T. / Schollmeyer, E. et al. | 2000
- 257
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A New Kind of Sensor for Determining the Flow of Waste WaterHimmel, J. et al. | 2000
- 257
-
Ein neuartiger Sensor zur Bestimmung des Volumenstromes von AbwässernHimmel, J. et al. | 2000
- 257
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Papers - A New Kind of Sensor for Determining the Flow of Waste WaterHimmel, J. et al. | 2000
- 264
-
Modelling of the Turbine Flow MeterShu, W.-Q. et al. | 2000
- 264
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Modellbildung des TurbinenraddurchflussmessersShu, Wei-Qun et al. | 2000
- 264
-
Papers - Modelling of the Turbine Flow MeterShu, W.-Q. et al. | 2000
- 267
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Objektrasterverfahren zur räumlichen Verformungsmessung an HochtemperaturbauteilenKornmann, R. / Kröplin, B. et al. | 2000
- 267
-
Grating Method for a Three-Dimensional Deformation Measurement of High-Temperature ComponentsKornmann, R. / Kroplin, B. et al. | 2000
- 267
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Papers - Grating Method for a Three-Dimensional Deformation Measurement of High-Temperature ComponentsKornmann, R. et al. | 2000
- 274
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Time-Discrete Amplitude and Position Control for Sinusoidal Accelerations up to 50 kHzGerhardt, J. / Schlaak, H.-J. et al. | 2000
- 274
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Papers - Time-Discrete Amplitude and Position Control for Sinusoidal Accelerations up to 50 kHzGerhardt, J. et al. | 2000
- 274
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Zeitdiskrete Amplituden- und Nulllageregelung für sinusförmige Beschleunigungen bis 50 kHzGerhardt, J. / Schlaak, H.J. et al. | 2000
- 283
-
On the Revision of the Gaussian Error CalculusGrabe, M. et al. | 2000
- 283
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Gedanken zur Revision der Gauß'schen FehlerrechnungGrabe, M. et al. | 2000
- 283
-
Papers - On the Revision of the Gaussian Error CalculusGrabe, M. et al. | 2000
- 289
-
Wavelets: Eine praxisorientierte Einführung mit Beispielen. Teil 4Best, R. et al. | 2000
- 289
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Papers - Wavelets: An Introduction for Potential Users, Part 4Best, R. et al. | 2000
- 289
-
Wavelets: An Introduction for Potential Users, Part 4Best, R. et al. | 2000
- 297
-
Nanomess- und Positioniertechnik (Nano-Measuring- and Positioning Technique)Jäger, G. et al. | 2000
- 297
-
Nanomess- und PositioniertechnikJager, G. et al. | 2000
- 297
-
Editorial - Nano-Measuring- and Positioning TechniqueJäger, G. et al. | 2000
- 298
-
Papers - Nano Positioning Devices - The Basis of Nano-MetrologyWilkening, G. et al. | 2000
- 298
-
Nanopositionierungen - die Basis der NanometrologieWilkening, G. et al. | 2000
- 298
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Nanopositionierungen - die Basis der Nanometrologie (Nano Positioning Devices – The Basis of Nano-Metrology)Wilkening, Günter et al. | 2000
- 306
-
Uber einige kalibrierte Rasterkraftmikroskope in der PTBHasche, K. / Herrmann, K. / Mirande, W. / Seemann, R. / Ahbe, T. / Buchner, H. et al. | 2000
- 306
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Über einige kalibrierte Rasterkraftmikroskope in der PTB (About Several Calibrated Scanning Force Microscopes in the PTB)Hasche, Klaus / Herrmann, K. / Mirandé, W. / Seemann, R. / Ahbe, Th. / Büchner, H. et al. | 2000
- 306
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Über einige kalibrierte Rasterkraftmikroskope in der PTBHasche, K. / Herrmann, K. / Mirande, W. / Seemann, R. / Ahbe, T. / Büchner, H. et al. | 2000
- 306
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Papers - About Several Calibrated Scanning Force Microscopes in the PTBHasche, K. et al. | 2000
- 313
-
Nanopositionierung mit integrierten MehrkoordinatenmotorenKallenbach, E. / Saffert, E. et al. | 2000
- 313
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Papers - Nano-Positioning with Integrated Multi-Coordinate DrivesKallenbach, E. et al. | 2000
- 313
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Nanopositionierung mit integrierten Mehrkoordinatenmotoren (Nano-Positioning with Integrated Multi-Coordinate Drives)Kallenbach, E. / Saffert, E. et al. | 2000
- 319
-
Nanomessmaschine zur abbefehlerfreien Koordinatenmessung (Nano Measuring Machine for Zero Abbe Offset Coordinate-measuring)Jäger, E. / Manske, E. / Hausotte, T. / Büchner, H.-J. et al. | 2000
- 319
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Nanomessmaschine zur abbefehlerfreien KoordinatenmessungJager, G. / Manske, E. / Hausotte, T. / Buchner, H.-J. et al. | 2000
- 319
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Papers - Nano Measuring Machine for Zero Abbe Offset Coordinate-MeasuringJäger, G. et al. | 2000
- 324
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Detection of Micronewton Forces in TribologyScherge, M. / Ahmed, S.I. / Mollenhauer, O. / Spiller, F. et al. | 2000
- 324
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Papers - Detection of Micronewton Forces in TribologyScherge, M. et al. | 2000
- 328
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Interferometrische Kalibrierverfahren für die Schrittweitensteuerung eines PhasenverschiebeinterferomtersNicolaus, A. / Bönsch, G. / Kang, Chu-Shik et al. | 2000
- 328
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Papers - Interferometric Calibration Procedures of the Step-Width Control of a Phase-Stepping InterferometerNicolaus, A. et al. | 2000
- 328
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Interferometrische Kalibrierverfahren fur die Schrittweitensteuerung eines PhasenverschiebeinterferometersNicolaus, A. / Bonsch, G. / Kang, C.-S. et al. | 2000
- 328
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Interferometrische Kalibrierverfahren für die Schrittweitensteuerung eines Phasenverschiebeinterferometers (Interferometric Calibration Procedures of the Step-Width Control of a Phase-Stepping Interferometer)Nicolaus, A. / Bönsch, G. / Kang, C.-S. et al. | 2000
- 334
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Anforderungen an die zukünftige Mikro- und Nanomesstechnik - Herausforderungen und Vorgehensweisen (Future Requirements on Micro- and Nanomeasurement Technique – Challenges and Approaches)Weckenmann, Albert / Ernst, Rolf et al. | 2000
- 334
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Anforderungen an die zukunftige Mikro- und Nanomesstechnik - Herausforderungen und VorgehensweisenWeckenmann, A. / Ernst, R. et al. | 2000
- 334
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Papers - Future Requirements on Micro- and Nanomeasurement Technique - Challenges and ApproachesWeckenmann, A. et al. | 2000
- 334
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Anforderungen an die zukünftige Mikro- und Nanomesstechnik - Herausforderungen und VorgehensweisenWeckenmann, A. / Ernst, R. et al. | 2000
- 343
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Wavelets: Eine praxisorientierte Einführung mit Beispielen, Teil 5 (Wavelets: An Introduction for Potential Users, Part 5)Best, R. et al. | 2000
- 343
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Papers - Wavelets: An Introduction for Potential Users, Part 5Best, R. et al. | 2000
- 343
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Wavelets: Eine praxisorientierte Einführung mit Beispielen, Teil 5Best, R. et al. | 2000
- 343
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Wavelets: Eine praxisorientierte Einfuhrung mit Beispielen, Teil 5Best, R. et al. | 2000
- 345
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Columns - News from Associations| 2000
- 353
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Determination of the Zeta Potential and the Surface Conductivity by Streaming Potential and Streaming Current MeasurementsZimmermann, R. / Jenschke, W. / Korber, H. / Werner, C. et al. | 2000
- 353
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Papers - Determination of the Zeta Potential and the Surface Conductivity by Streaming Potential and Streaming Current MeasurementsZimmermann, R. et al. | 2000
- 361
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Papers - Self Diagnosis in Flow Measurement by Combining Venturi- and Vortex-PrincipleSchäfer, R. et al. | 2000
- 361
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Self Diagnosis in Flow Measurement by Combining Venturi- and Vortex-PrincipleSchafer, R. / Jungmann, M. / Werthschutzky, R. et al. | 2000
- 367
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Possible Methods to Detect an Impurity Level in a TankWeiss, M. et al. | 2000
- 367
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Papers - Possible Methods to Detect an Impurity Level in a TankWeiss, M. et al. | 2000
- 375
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Standards for the Evaluation of Temperature Block CalibratorsGoser, A. / Hans, V. et al. | 2000
- 375
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Papers - Standards for the Evaluation of Temperature Block CalibratorsGoser, A. et al. | 2000
- 381
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Papers - New Measuring and Analysis Methods for the Simulation-Aided Tensile Shear Test of AdhesivesGegner, J. et al. | 2000
- 381
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New Measuring and Analysis Methods for the Simulation-Aided Tensile Shear Test of AdhesivesGegner, J. / Ochsner, A. / Busl, K. et al. | 2000
- 381
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Neue Mess- und Auswerteverfahren für den simulationsgestützten Zugscherversuch der KlebetechnikBusl, Klau / Öchsner, Andrea et al. | 2000
- 389
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Wavelets: An Introduction for Potential Users, Part 6Best, R. et al. | 2000
- 389
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Papers - Wavelets: An Introduction for Potential Users, Part 6Best, R. et al. | 2000
- 401
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Schneller, genauer, zuverlassiger OPTO 2000: optische Messtechnik und ihre AnwendungenWagner, E. et al. | 2000
- 401
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Editorial - Schneller, genauer, zuverlässiger . OPTO 2000: optische Messtechnik und ihre AnwendungenWagner, E. et al. | 2000
- 402
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Schnelles und hochauflösendes Laserradar mit Amplituden- und LaufzeitkompensationBourovoi, Ilia / Höfler, Heinrich et al. | 2000
- 402
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Fast and High-Resolution Laser Radar Using Amplitude and Time-Delay CompensationBourovoi, I. / Hofler, H. et al. | 2000
- 402
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Papers - Fast and High-Resolution Laser Radar Using Amplitude and Time-Delay CompensationBourovoi, I. et al. | 2000
- 406
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Multiple-Wavelength Interferometry for Absolute Distance Measurement and Three-Dimensional ImagingTrautner, J. / Walcher, K. / Leuchs, G. / Bodermann, B. / Telle, H. R. et al. | 2000
- 406
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Mehrwellenlängen-Interferometrie zur absoluten Abstandsmessung und 3D-BildgebungTrautner, J. / Wlcher, K. / Leuchs, G. / Bodermann, B. / Telle, H.R. et al. | 2000
- 406
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Papers - Multiple-Wavelength Interferometry for Absolute Distance Measurement and Three-Dimensional ImagingTrautner, J. et al. | 2000
- 410
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Papers - Absolute Distance Measurements with a Fiber Optic InterferometerJennewein, H. et al. | 2000
- 410
-
Absolute Distanzmessung mit einem faseroptischen InterferometerJennewein, H. / Gottschling, H. / Tschudi, T. et al. | 2000
- 410
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Absolute Distance Measurements with a Fiber Optic InterferometerJennewein, H. / Gottschling, H. / Tschudi, T. et al. | 2000
- 415
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Papers - In-process Characterization of Surface Microtopographies ...Patzelt, S. et al. | 2000
- 415
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In-process-Charakterisierung von Oberflächen-Mikrotopographien mittels Specklekorrelations-VerfahrenPatzelt, S. / Lehmann, P. / Ciossek, A. / Goch, G. et al. | 2000
- 415
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In-process Characterization of Surface MicrotopographiesPatzelt, S. / Lehmann, P. / Ciossek, A. / Goch, G. et al. | 2000
- 421
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Untersuchung von Phasensingularitäten in der Umgebung kleiner Strukturen mit einem Linnik-InterferenzmikroskopDorn, R. / Eberler, M. / Piringer, M. / Quabis, S. / Leuchs, G. et al. | 2000
- 421
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Papers - Investigation of Phase Singularities in the Vicinity of Small Structures ...Dorn, R. et al. | 2000
- 421
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Investigation of Phase Singularities in the Vicinity of Small StructuresDorn, R. / Eberler, M. / Piringer, M. / Quabis, S. / Leuchs, G. et al. | 2000
- 427
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Papers - Coating Inspection with a PMD Reflection SensorKoscheck, M. et al. | 2000
- 427
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Lackierungskontrolle mit PMD-ReflexionssensorKoschek, Mathia et al. | 2000
- 427
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Coating Inspection with a PMD Reflection SensorKoscheck, M. et al. | 2000
- 434
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Papers - Torque Sensor for Micro Motors with Opto-Electronic Measuring EquipmentAbraham, G. et al. | 2000
- 434
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Torque Sensor for Micro Motors with Opto-Electronic Measuring EquipmentAbraham, G. / Matzner, A. / Duffait, R. / Wurmsdobler, P. et al. | 2000
- 434
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Drehmomentsensor für Mikromotoren mit optoelektronischer MesseinrichtungAbraham, G. / Matzner, A. / Duffait, R. / Wurmsdobler, P. et al. | 2000
- 438
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Restflüssigkeitsdetektor für die GetränkeindustrieGeorgiadis, C. et al. | 2000
- 438
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Optical Detection of Residual Fluid in the Beverage IndustryGeorgiadis, C. et al. | 2000
- 438
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Papers - Optical Detection of Residual Fluid in the Beverage IndustryGeorgiadis, C. et al. | 2000
- 442
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Wavelets: An Introduction for Potential Users, Part 7Best, R. et al. | 2000
- 442
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Papers - Wavelets: An Introduction for Potential Users, Part 7Best, R. et al. | 2000
- 442
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Wavelets: Eine praxisorientierte Einführung mit Beispielen, Teil 7Best, R. et al. | 2000
- 457
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Dynamisches Vermessen von Robotern mit InertialmesssystemenAlban, T. / Janocha, H. et al. | 2000
- 457
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Papers - Dynamic Measurement of Robots with Inertial Measurement SystemsAlban, T. et al. | 2000
- 457
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Dynamic Measurement of Robots with Inertial Measurement SystemsAlban, T. / Janocha, H. et al. | 2000
- 465
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Papers - Piezoelectric Sensers for the Measurement of ViscosityEberl, R. et al. | 2000
- 465
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Piezoelectric Sensors for the Measurement of ViscosityEberl, R. / Wilke, J. et al. | 2000
- 465
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Piezoelektrische Sensoren für die ViskositätsmessungEberl, R. / Wilke, J. et al. | 2000
- 474
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Kalibrierung des faseroptischen Ortsfilter-Einpunkt-DurchflussgebersPetrak, D. / Mahr, P. et al. | 2000
- 474
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Papers - Calibration of the Fiberoptical One-Point Flow Meter Characterized by Spatial FilteringPetrak, D. et al. | 2000
- 474
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Calibration of the Fiberoptical One-Point Flow Meter Characterized by Spatial FilteringPetrak, D. / Mahr, P. et al. | 2000
- 479
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Lossless Real-Time Compression of Ultrasonic DataWunderlich, J. / Strutz, T. et al. | 2000
- 479
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Papers - Lossless Real-Time Compression of Ultrasonic DataWunderlich, J. et al. | 2000
- 479
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Verlustfreie Echtzeit-Kompression von EcholotdatenWunderlich, J. / Strutz, T. et al. | 2000
- 484
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Papers - Parameter Separation in Sensors and Measuring Systems through Signal ProcessingLiu, J.-G. et al. | 2000
- 484
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Parametertrennung in Sensoren und Messsystemen durch SignalverarbeitungLiu, Ji-Gou / Becker, W.J. / Gerhold, T. / Ricken, W. et al. | 2000
- 484
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Parameter Separation in Sensors and Measuring Systems through Signal ProcessingLiu, J.-G. / Becker, W.-J. / Gerhold, T. / Ricken, W. et al. | 2000
- 491
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Papers - Wavelets: An Introduction for Potential Users, Part 8Best, R. et al. | 2000
- 491
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Wavelets: Eine praxisorientierte Einführung mit Beispielen, Teil 8Best, R. et al. | 2000
- 491
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Wavelets: An Introduction for Potential Users, Part 8Best, R. et al. | 2000
- 513
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Measuring and Testing at Coatings: Special Features - Demands - LimitationsBrock, T. et al. | 2000
- 513
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Editorial - Measuring and Testing at Coatings: Special Features - Demands - LimitationsBrock, T. et al. | 2000
- 514
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Papers - Review of Methods to Characterise Coatings by Thermal AnalysisKunze, R. et al. | 2000
- 514
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Charakterisierung von Beschichtungen durch thermoanalytische VerfahrenKunze, Ralf et al. | 2000
- 514
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Review of Methods to Characterise Coatings by Thermal AnalysisKunze, R. et al. | 2000
- 519
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Thickness Measurement of Paint and Coatings Layers: Comparison and State of the ArtNeumaier, P. et al. | 2000
- 519
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Papers - Thickness Measurement of Paint and Coatings Layers: Comparison and State of the ArtNeumaier, P. et al. | 2000
- 519
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Möglichkeiten der Schichtdickenmessung an Lackschichten: Vergleich und Stand der TechnikNeumaier, Peter et al. | 2000
- 524
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Untersuchungen zur thermischen Alterung von BeschichtungenHolzhausen, Ute / Millow, Sieghard / Adler, Hans-Jürgen P. et al. | 2000
- 524
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Investigations of the Thermal Aging of CoatingsHolzhausen, U. / Millow, S. / Adler, H.-J. P. et al. | 2000
- 524
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Papers - Investigations of the Thermal Aging of CoatingsHolzhausen, U. et al. | 2000
- 529
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Application of Thermography in Automotive Painting ProcessesBurgmayer, T. et al. | 2000
- 529
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Papers - Application of Thermography in Automotive Painting ProcessesBurgmayer, T. et al. | 2000
- 533
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Papers - Weathering Tests of Coatings Including Acid Rain EffectsSchulz, U. et al. | 2000
- 533
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Weathering Tests of Coatings Including Acid Rain EffectsSchulz, U. / Trubiroha, P. et al. | 2000
- 537
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Papers - Investigation of Corrosion and Delamination of Coatings with SRET and LICTSchauer, T. et al. | 2000
- 537
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Untersuchung der Korrosion und Delamination von Beschichtungen mittels SRET und LICTSchauer, Thadeu / Maile, Frank J. et al. | 2000
- 537
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Investigation of Corrosion and Delamination of Coatings with SRET and LICTSchauer, T. / Maile, F. et al. | 2000
- 542
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Tribologisches Messverfahren zur Bestimmung von LackschichteigenschaftenMichel, Dirk / Scheibe, Andrea et al. | 2000
- 542
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Tribological Measuring Procedure for the Determination of Lacquer CharacteristicsMichels, D. / Scheibe, A. et al. | 2000
- 542
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Papers - Tribological Measuring Procedure for the Determination of Lacquer CharacteristicsMichels, D. et al. | 2000
- 546
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New Method for the Measurement of Coat StructureLex, K. / Hentschel, G. et al. | 2000
- 546
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Papers - New Method for the Measurement of Coat StructureLex, K. et al. | 2000
- 551
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Practical Notes: Contacts in Research and DevelopmentTimmermann, E.-H. / Brock, T. et al. | 2000
- 551
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Papers - Practical Notes: Contacts in Research and DevelopmentTimmermann, E.-H. et al. | 2000