Erzeugung und Auswertung von objektangepassten inversen Projektionsmustern (German)
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In:
Technisches Messen
;
70
, 2
;
99-103
;
2003
-
ISSN:
- Article (Journal) / Print
-
Title:Erzeugung und Auswertung von objektangepassten inversen Projektionsmustern
-
Additional title:Generation and evaluation of object adapted inverse patterns for projection
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Contributors:
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Published in:Technisches Messen ; 70, 2 ; 99-103
-
Publisher:
-
Publication date:2003
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Size:5 Seiten, 6 Bilder, 20 Quellen
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ISSN:
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Coden:
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DOI:
-
Type of media:Article (Journal)
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Type of material:Print
-
Language:German
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Keywords:
-
Source:
Table of contents – Volume 70, Issue 2
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Editorial - Photonische MessverfahrenPfeifer, T. et al. | 2003
- 53
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Absolut messendes DiodenlaserinterferometerBurgarth, V. / Zhang, C. / Abou-Zeid, A. et al. | 2003
- 53
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Diode Laser Interferometer for Absolute Distance MeasurementBurgarth, V. et al. | 2003
- 59
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Spatial-resolved Laser Doppler Velocity Profile Measurement of Boundary Layer FlowsCzarske, J. et al. | 2003
- 59
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Ortsaufgelöste Laser-Doppler-Geschwindigkeitsprofilmessung von GrenzschichtströmungenCzarske, J. / Büttner, L. / Razik, T. et al. | 2003
- 66
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Optische Verarbeitung von interferometrischen Streifenbildern und die Fehlererkennung durch Wavelet-FilterungKallmeyer, F. / Wernicke, G. / Krüger, S. / Gruber, H. / Osten, W. / Kayser, D. et al. | 2003
- 66
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Optical Processing of Interferometric Fringes and Detection of Faults by Wavelet FilteringKallmeyer, F. et al. | 2003
- 71
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Laser Speckle Strain Measurement and its Application in Material ScienceThurner, T. et al. | 2003
- 71
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Laser-Speckle-Dehnungsmessung und deren Anwendung in der MaterialwissenschaftThurner, Thoma / Schneider, Sebastian C / Zagar, Bernhard G. et al. | 2003
- 79
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Simultaneous Measurement of Shape and Color of Complex ObjectsNotni, G.H. et al. | 2003
- 79
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Simultane Erfassung von 3D-Form und Farbe komplexer ObjekteNotni, Georg et al. | 2003
- 85
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New Concepts for a Fiber Based System for Absolute Distance MeasurementsBosbach, C. et al. | 2003
- 85
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Neue Konzepte für ein faserbasiertes Messsystem zur absoluten AbstandsmessungBosbach, C. / Pfeifer, T. / Depiereux, F. et al. | 2003
- 93
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Formvermessung an bewegten technischen Oberflächen mittels der Speckle-InterferometrieMeixner, A. / Zeh, T. / Riemenschneider, M. / Purde, A. / Koch, A.W. et al. | 2003
- 93
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Contouring of Moving Technical Surfaces via Speckle-InterferometryMeixner, A. et al. | 2003
- 99
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Erzeugung und Auswertung von objektangepassten inversen ProjektionsmusternBothe, T. / Li, W. / von Kopylow, C. / Jüptner, W. et al. | 2003
- 99
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Generation and Evaluation of Object Adapted Inverse Patterns for ProjectionBothe, T. et al. | 2003
- 104
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Product Information| 2003
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Event Calendar| 2003