Year of publication
Type of media
Source
Type of material
Licence
Language
Synonyms were used for: Abgleichen
Search without synonyms: keywords:(Kalibrieren (Abgleichen))
Used synonyms:
- abgleich
- fluchtung
- justage
- justieren
- justiertechnik
- justierung
-
Investigation of gratings with period lengths in the nanometre range
Tema Archive | 2001|Keywords: Kalibrieren (Abgleichen) -
Micro hardness measurement with the aid of calibrated scanning force microscopes
Tema Archive | 1997|Keywords: Kalibrieren (Abgleichen) -
Rasterkraftmikroskopische Messungen an Eindringkörpern
Tema Archive | 1999|Keywords: Kalibrieren (Abgleichen) -
Development of calibration methods for the nanoidentation test
Tema Archive | 2000|Keywords: Kalibrieren (Abgleichen) -
Untersuchungen zur Schichtdickenmeßtechnik in der PTB
Tema Archive | 1994|Keywords: Kalibrieren (Abgleichen) -
Entwicklung eines 3D-laserinterferometrischen Nanomeßsystems für den Abbe-fehlerfreien Einbau in Rasterkraftmikroskope
Tema Archive | 1999|Keywords: Kalibrieren (Abgleichen) -
Wie genau kann man die Unsicherheit eines Messergebnisses beschreiben
Tema Archive | 1987|Keywords: KALIBRIEREN (ABGLEICHEN) -
Dimensionelle Metrologie mittels Rastersondenmikroskopie
Tema Archive | 2002|Keywords: Kalibrieren (Abgleichen) -
Development of reference standards for the coating thickness
Tema Archive | 1999|Keywords: Kalibrieren (Abgleichen) -
Film thickness standards on the nanometer scale
Tema Archive | 2002|Keywords: Kalibrieren (Abgleichen) -
40 Jahre Qualitaetssicherung und Fertigungsmesstechnik
Tema Archive | 1989|Keywords: KALIBRIEREN (ABGLEICHEN) -
Metrological scanning force microscopy applicable for surface evaluation
Tema Archive | 2004|Keywords: Kalibrieren (Abgleichen) -
Determination of the geometry of microhardness indenters with a scanning force microscope
Tema Archive | 1998|Keywords: Kalibrieren (Abgleichen) -
Metrologische Probleme bei der Bestimmung der Härte dünner Schichten
Tema Archive | 1999|Keywords: Kalibrieren (Abgleichen) -
Standards for the calibration of SPMs: design - traceable - calibration - application
Tema Archive | 2000|Keywords: Kalibrieren (Abgleichen) -
Untersuchungen zur Rückführbarkeit von Schichtdickenmessungen
Tema Archive | 1996|Keywords: Kalibrieren (Abgleichen) -
3D profiler with interferometric position-measuring system
Tema Archive | 1999|Keywords: Kalibrieren (Abgleichen)
- ««
- «
- 1
- »»
Send my search to (beta)
Send your search query (search terms without filters) to other databases, portals and catalogues to find more interesting hits.
Dimensions is a database for abstracts and citations that links information on research funding with the resulting publications, studies and patents.
In the TIB AV-Portal, audiovisual media from science and teaching can be foundand own scientific videos can be published.
The FID move can be used to search for subject-specific literature, research data and other information from mobility and transport research.
The Open Research Knowledge Graph provides structured descriptions of research content and makes it comparable.
Freely accessible part of the collaborative K10plus catalogue with materials relevant for interlibrary loan and direct delivery services.