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Reliability capability evaluation model for highly integrated packages
TIBKAT | 2013|Publisher: Siemens AG, Berlin -
Reliability capability evaluation model for highly integrated packages
Free accessTIBKAT | 2013|Publisher: Siemens AG, Berlin -
Numerische Device-Simulation von MOSFETs bei ESD-Belastung : Dokumentation zum Forschungsprojekt ; Laufzeit: 1.1.1995 bis 31.12.1996 ; Abschluß-bericht
TIBKAT | 1997|Publisher: Siemens AG, Semiconductor Group, Munich -
EMV-Messungen an Modellgehäusen : Abschlußbericht 1996 des Antragstellers Siemens AG ; Zeitraum 01.07.94-31.12.96
TIBKAT | 1997|Publisher: Siemens AG [u.a.], Erlangen [u.a.] -
AC41 Zwischenbericht : Teil 1a: Untersuchung des Einflusses der TLP-Plus-Anstiegszeit auf die Ausfallschwellen ; Juli bis Dezember 1995
TIBKAT | 1995|Publisher: Siemens AG, Semiconductor Group, Munich -
EMV-Messungen an Kreisscheiben : Abschlußbericht 1996 des Unterauftragnehmers TU Dresden ; Zeitraum 01.07.94-30.06.96
TIBKAT | 1997|Publisher: Siemens AG [u.a.], Erlangen [u.a.] -
AC41 Abschlußbericht : Teil II: Kompaktsimulation ; Juli bis Dezember 1996
TIBKAT | 1996|Publisher: Siemens AG, Semiconductor Group, Munich -
AC41 Zwischenbericht : Teil 1b: CDM Monitor-Schaltkreis ; Juli bis Dezember 1995
TIBKAT | 1995|Publisher: Siemens AG, Semiconductor Group, Munich -
Kunststoffspritzen und Galvanisieren : Abschlußbericht 1996 des Antragstellers Siemens AG ; Zeitraum 01.07.94-31.12.96
TIBKAT | 1997|Publisher: Siemens AG [u.a.], Erlangen [u.a.] -
AC41 Zwischenbericht : Teil III: Kompaktsimulation des Referenz-Schutztransistors ; Januar bis Juni 1996
TIBKAT | 1996|Publisher: Siemens AG, Semiconductor Group, Munich -
AC41 Abschlußbericht : Teil I: TLP-Messung auf Waferebene : Untersuchung der Korrelation HBM-TLP ; Juli bis Dezember 1996
TIBKAT | 1996|Publisher: Siemens AG, Semiconductor Group, Munich -
Methoden der Defekterkennung für die 193nm- und die EUV-Technologie, Demonstrator-Entwicklung : Abschlussbericht ; Verbundprojekt: Abbildungsmethodiken für nanoelektronische Bauelemente (ABBILD), Teilvorhaben: 4, Arbeitspaket: 4300 ; Laufzeit: 01.10.2003 - 30.09.2007
Free accessTIBKAT | 2008|Publisher: SIEMENS AG, Corporate Technology, CT PS 9, München -
Entwicklung von energiesparenden MOS-Schaltelementen auf SiC-Basis : Abschlußbericht
TIBKAT | 2000|Publisher: Siemens AG, Zentral Technik, ZT EN 6 [u.a.], Erlangen -
Entwicklung von energiesparenden MOS-Schaltelementen auf SiC-Basis, Teilvorhaben: Grundlagenentwicklung zur Gate-Technologie von UMOSFETs auf Siliciumcarbid : Abschlußbericht
TIBKAT | 2000|Publisher: Siemens AG, Zentral Technik, ZT EN 6 [u.a.], Erlangen -
Höchstauflösende Lithographie mit nahfeldoptischen Methoden
TIBKAT | 1996|Publisher: Siemens AG, Zentrale Forschung und Entwicklung, Abt. Material und Recycling [MR5, Funktionelle Schichten], Erlangen
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