REVISTA MEXICANA DE FISICA

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Inhaltsverzeichnis

238
Sistema de microscopía de fuerza atómica basada en una unidad de lectura óptica digital y un escáner-zumbador
Dabirian, Reza / Wang, Wei-Min / Matovelle, David Loza et al. | 2015
245
Refractive index expressions for Ga~1~-~xIn~xAs, GaAs~1~-~xN~x and Ga~1~-~xIn~xN~yAs~1~-~y alloys
Martín, J. A. / Sánchez, M. | 2015
254
Microestructura, propagación y emisión acústica de grietas en dos papeles de celulosa
Aguirre, D. / Aldaco, J. / Hinojosa, M. | 2015
261
Fractional viscoelastic models applied to biomechanical constitutive equations
Palomares-Ruiz, J. E. / Rodriguez-Madrigal, M. / Lugo, J. G. Castro et al. | 2015
268
The Liouville theorem as a problem of common eigenfunctions
del Castillo, G. F. Torres | 2015
272
La extinción primaria y el factor estático de Debye-Waller en la caracterización de níquel con textura mediante difracción de rayos X
Kryshtab, T. / Arenas, A. Cadena / Kryvko, A. et al. | 2015
281
Simple algebraic method to study the effects of hydrostatic pressure on the fundamental parameters of a Schottky barrier of metal/n-GaAs
Oubram, O. / Gaggero-Sager, L. M. / Rodríguez-Vargas, I. | 2015
287
Anomalous photon emission from a solid
Ivlev, Boris I. | 2015
296
Contributions to the defocusing effect on pole figure measurements by X-ray diffraction
Gómez, J. Palacios / Figols, R. S. Salat / Jiménez, A. Jiménez et al. | 2015
301
Método de lente térmica resuelta en frecuencia para medir coeficientes de difusión térmica en muestras líquidas
Rodriguez, L. G. / Cantini, L. P. / Granizo, E. et al. | 2015
307
Evaluación de la resolución frecuencial en osciloscopios comerciales
Forgach, C. Stern / Reyes, J. M. Alvarado | 2015
312
Optical and structural properties of CdS:Pb^2^+ nanocrystals
Gutiérrez, R. / Portillo, O. / Chávez, M. et al. | 2015