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Inhaltsverzeichnis
6
Design and test of an integrated cryptochip
Hafner, K.
/ Ritter, H.C.
/ Schwair, T.M.
et al.
| 1991
18
A methodology for debugging ASIC prototypes in the field
Fechser, D.A.
et al.
| 1991
25
A mathematical model for integrated diagnostics
Sheppard, J.W.
/ Simpson, W.R.
et al.
| 1991
39
Electrical characterization of megabit DRAMs. 11. Internal testing
Kolzer, J.
/ Otto, J.
et al.
| 1991
52
Test engineering education is rational, feasible, and relevant
Absher, R.
et al.
| 1991
64
Economic effects in design and test
Dear, I.D.
/ Dislis, C.
/ Ambler, A.P.
et al.
| 1991