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Band 15,
Ausgabe 6
Band 15,
Ausgabe 5
Band 15,
Ausgabe 4
Band 15,
Ausgabe 3
Band 15,
Ausgabe 2
Band 15,
Ausgabe 1
Band 14,
Ausgabe 12
Band 14,
Ausgabe 11
Band 14,
Ausgabe 10
Band 14,
Ausgabe 9
Band 14,
Ausgabe 8
Band 14,
Ausgabe 7
Band 14,
Ausgabe 6
Band 14,
Ausgabe 5
Band 14,
Ausgabe 4
Band 14,
Ausgabe 3
Band 14,
Ausgabe 2
Band 14,
Ausgabe 1
Band 13,
Ausgabe 12
Band 13,
Ausgabe 11
Band 13,
Ausgabe 10
Band 13,
Ausgabe 8
Band 13,
Ausgabe 7
Band 13,
Ausgabe 6
Band 13,
Ausgabe 5
Band 13,
Ausgabe 4
Band 13,
Ausgabe 3
Band 13,
Ausgabe 2
Band 13,
Ausgabe 1
Band 12,
Ausgabe 12
Band 12,
Ausgabe 11
Band 12,
Ausgabe 10
Band 12,
Ausgabe 9
Band 12,
Ausgabe 8
Band 12,
Ausgabe 7
Band 12,
Ausgabe 6
Band 12,
Ausgabe 5
Band 12,
Ausgabe 4
Band 12,
Ausgabe 3
Band 12,
Ausgabe 2
Band 12,
Ausgabe 1
Band 11,
Ausgabe 12
Band 11,
Ausgabe 11
Band 11,
Ausgabe 10
Band 11,
Ausgabe 9
Band 11,
Ausgabe 8
Band 11,
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Band 11,
Ausgabe 6
Band 11,
Ausgabe 5
Band 11,
Ausgabe 4
Band 11,
Ausgabe 3
Band 11,
Ausgabe 2
Band 11,
Ausgabe 1
Band 10,
Ausgabe 6
Band 10,
Ausgabe 5
Band 10,
Ausgabe 4
Band 10,
Ausgabe 3
Band 10,
Ausgabe 2
Band 10,
Ausgabe 1
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Inhaltsverzeichnis
621
Editorial
Jindal, R.P.
et al.
| 1999
622
PAPERS - Compound Semiconductor Devices - Theoretical and Experimental Investigation of the Collector-Emitter Offset Voltage of AlGaAs-GaAs Heterojunction Bipolar Transistors
Bovolon, N.
et al.
| 1999
622
Theoretical and Experimental Investigation of the Collector-Emitter Offset Voltage of AlGaAs/GaAs Heterojunction Bipolar Transistors
Bovolon, N.
/ Schultheis, R.
/ Mueller, J.-E.
et al.
| 1999
628
PAPERS - Compound Semiconductor Devices - Reduction of the Base-Collector Capacitance in InP-GaInAs Heterojunction Bipolar Transistors Due to Electron Velocity Modulation
Betser, Y.
et al.
| 1999
628
Reduction of the Base-Collector Capacitance in InP/GaInAs Heterojunction Bipolar Transistors Due to Electron Velocity
Betser, Y.
/ Ritter, D.
et al.
| 1999
634
PAPERS - Compound Semiconductor Devices - Temperature Dependence of InGaP-GaAs Heterojunction Bipolar Transistor DC and Small-Signal Behavior
Ahmari, D.A.
et al.
| 1999
634
Temperature Dependence of InGaP/GaAs Heterojunction Bipolar Transistor DC and Small-Signal Behavior
Ahmari, D. A.
/ Raghavan, G.
/ Hartmann, Q. J.
et al.
| 1999
641
Energy Transport Simulation for Graded HBT's: Importance of Setting Adequate Values for Transport Parameters
Horio, K.
/ Okada, T.
/ Nakatani, A.
et al.
| 1999
641
PAPERS - Compound Semiconductor Devices - Energy Transport Simulation for Graded HBT's: Importance of Setting Adequate Values for Transport Parameters
Horio, K.
et al.
| 1999
648
PAPERS - Compound Semiconductor Devices - Two-Dimensional Analysis of Surface-State Effects on Turn-On Characteristics in GaAs MESFET's
Horio, K.
et al.
| 1999
648
Two-Dimensional Analysis of Surface-State Effects on Turn-On Characteristics in GaAs MESFET's
Horio, K.
/ Yamada, T.
et al.
| 1999
656
The Effect of Auger Mechanism on n^+-p GaInAsSb Infrared Photovoltaic Detectors
Tian, Y.
/ Zhou, T.
/ Zhang, B.
et al.
| 1999
656
PAPERS - Optoelectrics, Displays, Imaging - The Effect of Auger Mechanism on n+-p GaInAsSb Infrared Photovoltaic Detectors
Tian, Y.
et al.
| 1999
661
Theoretical and Experimental Study of Nematic Liquid Crystal Display Cells Using the In-Plane-Switching Mode
Di Pasquale, F.
/ Deng, H. F.
/ Fernandez, F. A.
et al.
| 1999
661
PAPERS - Optoelectrics, Displays, Imaging - Theoretical and Experimental Study of Nematic Liquid Crystal Display Cells Using the In-Plane-Switching Mode
Pasquale, F.Di
et al.
| 1999
669
PAPERS - Optoelectrics, Displays, Imaging - Effects of Optical Absorption on the Quasi-Fermi Level Splitting at the Emitter-Base Junction in npn Heterojunction Bipolar Phototransistors
Roenker, K.P.
et al.
| 1999
669
Effects of Optical Absorption on the Quasi-Fermi Level Splitting at the Emitter-Base Junction in npn Heterojunction Bipolar Phototransistors
Roenker, K. P.
/ Frimel, S. M.
/ Cahay, M. M.
et al.
| 1999
675
Characterization and Optimization of Infrared Poly SiGe Bolometers
Sedky, S.
/ Fiorini, P.
/ Baert, K.
et al.
| 1999
675
PAPERS - Sensors and Actuators - Characterization and Optimization of Infrared Poly SiGe Bolometers
Sedky, S.
et al.
| 1999
683
PAPERS - Silicon Devices - Decaborane (B1oHl4) Ion Implantation Technology for Sub-0.1-mm PMOSFET's
Goto, K.
et al.
| 1999
683
Decaborane (B~1~0H~1~4) Ion Implantation Technology for Sub-0.1-m PMOSFET's
Goto, K.
/ Matsuo, J.
/ Tada, Y.
et al.
| 1999
690
PAPERS - Silicon Devices - A Novel Transient Simulation for 3-D Multilevel Interconnections on Complex Topography
Hou, H.-M.
et al.
| 1999
690
A Novel Transient Simulation for 3-D Multilevel Interconnections on Complex Topography
Hou, H.-M.
/ Sheen, C.-S.
/ Wu, C.-Y.
et al.
| 1999
696
Low-Voltage Hot Electrons and Soft-Programming Lifetime Prediction in Nonvolatile Memory Cells
Ghetti, A.
/ Sehmi, L.
/ Bez, R.
et al.
| 1999
696
PAPERS - Silicon Devices - Low-Voltage Hot Electrons and Soft-Programming Lifetime Prediction in Nonvolatile Memory Cells
Ghetti, A.
et al.
| 1999
703
Electrical Characteristics of 0(degree)-(plus-minus)45(degree)-90(degree)-Orientation CMOSFET with Source-Drain Fabricated by Various Ion- Implantation Methods
Matsuda, T.
et al.
| 1999
703
Electrical characteristics of 0 degrees /+or-45 degrees /90 degrees -orientation CMOSFET with source/drain fabricated by various ion-implantation methods
Matsuda, T.
/ Okina, M.
/ Ohzone, T.
et al.
| 1999
703
Electrical Characteristics of 0/45/90-Orientation CMOSFET with Source/Drain Fabricated by Various Ion-Implantation Methods
Matsuda, T.
/ Okina, M.
/ Ohzone, T.
et al.
| 1999
712
An 0.3-m Si Epitaxial Base BiCMOS Technology with 37-GHz f~m~a~x and 10-V BV~c~e~o for RF Telecommunication
Nii, H.
/ Yoshino, C.
/ Yoshitomi, S.
et al.
| 1999
712
PAPERS - Silicon Devices - An 0.3-mm Si Epitaxial Base BiCMOS Technology with 37-GHz frIIax and 10-V BVceo for RF Telecommunication
Nii, H.
et al.
| 1999
722
A New I-V Model Considering the Impact-Ionization Effect Initiated by the DIGBL Current for the Intrinsic n-Channel Poly-Si TFT's
Chert, H.-L.
/ Wu, C.-Y.
et al.
| 1999
722
PAPERS - Silicon Devices - A New I-V Model Considering the Impact-Ionization Effect Initiated by the DIGBL Current for the Intrinsic n-Channel Poly-Si TFT' s
Chen, H.-L.
et al.
| 1999
729
Analytical Threshold Voltage Model for Ultrathin SOI MOSFET's Including Short-Channel and Floating-Body Effects
Adan, A. O.
/ Higashi, K.
/ Fukushima, Y.
et al.
| 1999
729
PAPERS - Silicon Devices - Analytical Threshold Voltage Model for Ultrathin SOI MOSFET's Including Short-Channel and Floating-Body Effects
Adan, A.O.
et al.
| 1999
738
The Role of Electron Traps on the Post-Stress Interface Trap Generation in Hot-Carrier Stressed p-MOSFET's
Ang, D. S.
/ Ling, C. H.
et al.
| 1999
738
PAPERS - Silicon Devices - The Role of Electron Traps on the Post-Stress Interface Trap Generation in Hot-Carrier Stressed p-MOSFET's
Ang, D.S.
et al.
| 1999
747
The Combined Effects of Deuterium Anneals and Deuterated Barrier-Nitride Processing on Hot-Electron Degradation in MOSFET's
Ference, T. G.
/ Burnham, J. S.
/ Clark, W. F.
et al.
| 1999
747
PAPERS - Silicon Devices - The Combined Effects of Deuterium Anneals and Deuterated Barrier-Nitride Processing on Hot-Electron Degradation in MOSFET's
Ference, T.G.
et al.
| 1999
754
PAPERS - Silicon Devices - Fully Depleted CMOS-SOI Device Design Guidelines for Low-Power Applications
Banna, S.R.
et al.
| 1999
754
Fully Depleted CMOS/SOI Device Design Guidelines for Low-Power Applications
Banna, S. R.
/ Chan, P. C. H.
/ Chart, M.
et al.
| 1999
762
PAPERS - A Large-Signal SOI MOSFET Model Including Dynamic Self-Heating Based on Small-Signal Model Parameters
Caviglia, A.L.
et al.
| 1999
762
A Large-Signal SOI MOSFET Model Including Dynamic Self-Heating Based on Small-Signal Model Parameters
Caviglia, A. L.
/ Iliadis, A. A.
et al.
| 1999
769
PAPERS - Solid-Stafe Device Phenomena - A Simple Model for Avalanche Multiplication Including Deadspace Effects
Plimmer, S.A.
et al.
| 1999
769
A Simple Model for Avalanche Multiplication Including Deadspace Effects
Plimmer, S. A.
/ David, J. P. R.
/ Ong, D. S.
et al.
| 1999
776
PAPERS - Solid-Stafe Device Phenomena - Electric-Field Penetration Into Metals: Consequences for High-Dielectric-Constant Capacitors
Black, C.T.
et al.
| 1999
776
Electric-Field Penetration Into Metals: Consequences for High-Dielectric-Constant Capacitors
Black, C. T.
/ Weiser, J. J.
et al.
| 1999
781
PAPERS - Solid-State Power and High Voltage - Dynamic Avalanche in 3.3-kV Si Power Diodes
Domeij, M.
et al.
| 1999
781
Dynamic Avalanche in 3.3-kV Si Power Diodes
Domeij, M.
/ Breitholtz, B.
/ Hillkirk, L. M.
et al.
| 1999
787
PAPERS - Vacuum Electron Devices - Poly-Diamond Gated Field-Emitter Display Cells
Hong, D.
et al.
| 1999
787
Poly-Diamond Gated Field-Emitter Display Cells
Hong, D.
/ Aslam, D. M.
et al.
| 1999
792
High Current Density Si Field Emission Devices with Plasma Passivation and HfC Coating
Rakhshandehroo, M. R.
/ Pang, S. W.
et al.
| 1999
792
PAPERS - Vacuum Electron Devices - High Current Density Si Field Emission Devices with Plasma Passivation and HfC Coating
Rakhshandehroo, M.R.
et al.
| 1999
798
PAPERS - Vacuum Electron Devices - Highly Efficient Operation of Space Harmonic Peniotron at Cyclotron High Harmonics
Ishihara, T.
et al.
| 1999
798
Highly Efficient Operation of Space Harmonic Peniotron at Cyclotron High Harmonics
Ishihara, T.
/ Sagae, K.
/ Sato, N.
et al.
| 1999
803
A Simple Voltage Scaling Formula for Low-Power CMOS Circuits
Kang, D.-G.
/ Park, Y. J.
/ Min, H. S.
et al.
| 1999
803
BRIEFS - A Simple Voltage Scaling Formula for Low-Power CMOS Circuits
Kang, D.-G.
et al.
| 1999
805
Metal Node Contact TFT SRAM Cell for High-Speed, Low-Voltage Applications
Son, K. S.
/ Kwon, S. W.
/ Lee, Y. J.
et al.
| 1999
805
BRIEFS - Metal Node Contact TFT SRAM Cell for High-Speed, Low-Voltage Applications
Son, K.S.
et al.
| 1999
807
BRIEFS - A Simple and Unambiguous Definition of Threshold Voltage and Its Implications in Deep-Submicron MOS Device Modeling
Zhou, X.
et al.
| 1999
807
A Simple and Unambiguous Definition of Threshold Voltage and Its Implications in Deep-Submicron MOS Device
Zhou, M. X.
/ Lim, K. Y.
/ Lim, D.
et al.
| 1999
809
BRIEFS - Assessment of Beryllium Out-Diffusion in AlGaAs-GaAs Heterojunction Bipolar Transistors Using Low-Temperature Photoluminescence Technique
Wang, H.
et al.
| 1999
809
Assessment of Beryllium Out-Diffusion in AlGaAs/GaAs Heterojunction Bipolar Transistors Using Low-Temperature Photoluminescence Technique
Wang, H.
/ Ng, G. I.
/ Zheng, H.
et al.
| 1999
811
Low-Frequency Noise and Interface States in GaAs Homojunction Far-Infrared Detectors
Shen, W. Z.
/ Perera, A. G. U.
et al.
| 1999
811
BRIEFS - Low-Frequency Noise and Interface States in GaAs Homojunction Far-Infrared Detectors
Shen, W.Z.
et al.
| 1999
814
A Study of Rapid Photothermal Annealing on the Electrical Properties and Reliability of Tantalum Pentoxide
Chen, Y.
/ Singh, R.
/ Rajah, K.
et al.
| 1999
814
BRIEFS - A Study of Rapid Photothermal Annealing on the Electrical Properties and Reliability of Tantalum Pentoxide
Chen, Y.
et al.
| 1999
817
On the Accuracy of Generation Lifetime Measurement in High-Resistivity Silicon Using PN Gated Diodes
Verzellesi, G.
/ Dalla Betta, G. F.
/ Bosisio, L.
et al.
| 1999
817
BRIEFS - On the Accuracy of Generation Lifetime Measurement in High-Resistivity Silicon Using PN Gated Diodes
Verzellesi, G.
et al.
| 1999
820
An 0.1-m Asymmetric Halo by Large-Angle-Tilt Implant (AHLATI) MOSFET for High Performance and Reliability
Shin, H.
/ Lee, S.
et al.
| 1999
820
BRIEFS - An 0.1-mm Asymmetric Halo by Large-Angle-Tilt Implant (AHLATI) MOSFET for High Performance and Reliability
Shin, H.
et al.
| 1999
820
An 0.1- mu m asymmetric halo by large-angle-tilt implant (AHLATI) MOSFET for high performance and reliability
Shin, Hyungsoon
/ Lee, Seungjun
et al.
| 1999
823
ANNOUNCEMENTS - Call for Papers -- Special Issue on Bipolar Transistor Technology: Past and Future Directions
| 1999
824
ANNOUNCEMENTS - Call for Papers -- 1999 International Integrated Reliability Workshop
| 1999