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Band 15,
Ausgabe 6
Band 15,
Ausgabe 5
Band 15,
Ausgabe 4
Band 15,
Ausgabe 3
Band 15,
Ausgabe 2
Band 15,
Ausgabe 1
Band 14,
Ausgabe 12
Band 14,
Ausgabe 11
Band 14,
Ausgabe 10
Band 14,
Ausgabe 9
Band 14,
Ausgabe 8
Band 14,
Ausgabe 7
Band 14,
Ausgabe 6
Band 14,
Ausgabe 5
Band 14,
Ausgabe 4
Band 14,
Ausgabe 3
Band 14,
Ausgabe 2
Band 14,
Ausgabe 1
Band 13,
Ausgabe 12
Band 13,
Ausgabe 11
Band 13,
Ausgabe 10
Band 13,
Ausgabe 8
Band 13,
Ausgabe 7
Band 13,
Ausgabe 6
Band 13,
Ausgabe 5
Band 13,
Ausgabe 4
Band 13,
Ausgabe 3
Band 13,
Ausgabe 2
Band 13,
Ausgabe 1
Band 12,
Ausgabe 12
Band 12,
Ausgabe 11
Band 12,
Ausgabe 10
Band 12,
Ausgabe 9
Band 12,
Ausgabe 8
Band 12,
Ausgabe 7
Band 12,
Ausgabe 6
Band 12,
Ausgabe 5
Band 12,
Ausgabe 4
Band 12,
Ausgabe 3
Band 12,
Ausgabe 2
Band 12,
Ausgabe 1
Band 11,
Ausgabe 12
Band 11,
Ausgabe 11
Band 11,
Ausgabe 10
Band 11,
Ausgabe 9
Band 11,
Ausgabe 8
Band 11,
Ausgabe 7
Band 11,
Ausgabe 6
Band 11,
Ausgabe 5
Band 11,
Ausgabe 4
Band 11,
Ausgabe 3
Band 11,
Ausgabe 2
Band 11,
Ausgabe 1
Band 10,
Ausgabe 6
Band 10,
Ausgabe 5
Band 10,
Ausgabe 4
Band 10,
Ausgabe 3
Band 10,
Ausgabe 2
Band 10,
Ausgabe 1
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Inhaltsverzeichnis
1
Influences of sulfur passivation on temperature-dependent characteristics of an AlGaAs/InGaAs/GaAs PHEMT
Po-Hsien Lai,
/ Chun-Wei Chen,
/ Chung-I Kao,
et al.
| 2006
1
Compound Semiconductor Devices - Influences of Sulfur Passivation on Temperature-Dependent Characteristics of an AlGaAs-InGaAs-GaAs PHEMT
Lai, P.-H.
et al.
| 2006
9
Engineering density of semiconductor-dielectric interface states to modulate threshold voltage in OFETs
Wang, A.
/ Kymissis, I.
/ Bulovic, V.
et al.
| 2006
9
Molecular Electronics-Quantum Devices - Engineering Density of Semiconductor-Dielectric Interface States to Modulate Threshold Voltage in OFETs
Wang, A.
et al.
| 2006
14
A three charge-states model for silicon nanocrystals nonvolatile memories
Busseret, C.
/ Ferraton, S.
/ Montes, L.
et al.
| 2006
14
Nanoelectronics - A Three Charge-States Model for Silicon Nanocrystals Nonvolatile Memories
Busseret, C.
et al.
| 2006
23
Optoelectronics, Displays, and Imaging - Interpretation of Current Flow in Photodiode Structures Using Laser Beam-Induced Current for Characterization and Diagnostics
Redfern, D.A.
et al.
| 2006
23
Interpretation of current flow in photodiode structures using laser beam-induced current for characterization and diagnostics
Redfern, D.A.
/ Smith, E.P.G.
/ Musca, C.A.
et al.
| 2006
32
Rapid thermal annealed InGaN/GaN flip-chip LEDs
Chen, W.S.
/ Shei, S.C.
/ Chang, S.J.
et al.
| 2006
32
Optoelectronics, Displays, and Imaging - Rapid Thermal Annealed InGaN-GaN Flip-Chip LEDs
Chen, W.S.
et al.
| 2006
38
Optoelectronics, Displays, and Imaging - GaN MSM UV Photodetectors With Titanium Tungsten Transparent Electrodes
Wang, C.K.
et al.
| 2006
38
GaN MSM UV photodetectors with titanium tungsten transparent electrodes
Wang, C.K.
/ Chang, S.J.
/ Su, Y.K.
et al.
| 2006
43
Reliability - Hot-Carrier-Induced Degradation of LDD Polysilicon TFTs
Valletta, A.
et al.
| 2006
43
Hot-carrier-induced degradation of LDD polysilicon TFTs
Valletta, A.
/ Mariucci, L.
/ Fortunato, G.
et al.
| 2006
51
Evidence for bulk trap generation during NBTI phenomenon in pMOSFETs with ultrathin SiON gate dielectrics
Tsujikawa, S.
/ Yugami, J.
et al.
| 2006
51
Reliability - Evidence for Bulk Trap Generation During NBT1 Phenomenon in pMOSFETs With Ultrathin SiON Gate Dielectrics
Tsujikawa, S.
et al.
| 2006
56
Silicon Devices - HSPICE Macromodel of PCRAM for Binary and Multilevel Storage
Wei, X.Q.
et al.
| 2006
56
HSPICE macromodel of PCRAM for binary and multilevel storage
Wei, X.Q.
/ Shi, L.P.
/ Walia, R.
et al.
| 2006
63
Effects of interstitial oxygen defects at HfO/sub x/N/sub y//Si interface on electrical characteristics of MOS devices
Chin-Lung Cheng,
/ Chun-Yuan Lu,
/ Kuei-Shu Chang-Liao,
et al.
| 2006
63
Silicon Devices - Effects of Interstitial Oxygen Defects at HfOxNy-Si Interface on Electrical Characteristics of MOS Devices
Cheng, C.-L.
et al.
| 2006
63
Effects of Interstitial Oxygen Defects at HfO~xN~y/Si Interface on Electrical Characteristics of MOS Devices
Cheng, C.-L.
/ Lu, C.-Y.
/ Chang-Liao, K.-S.
et al.
| 2006
71
Boron pocket and channel deactivation in nMOS transistors with SPER junctions
Duffy, R.
/ Aboy, M.
/ Venezia, V.C.
et al.
| 2006
71
Silicon Devices - Boron Pocket and Channel Deactivation in nMOS Transistors With SPER Junctions
Duffy, R.
et al.
| 2006
78
A novel high-/spl kappa/ SONOS memory using TaN/Al/sub 2/O/sub 3//Ta/sub 2/O/sub 5//HfO/sub 2//Si structure for fast speed and long retention operation
Xuguang Wang,
/ Dim-Lee Kwong,
et al.
| 2006
78
A Novel High-kappa SONOS Memory Using TaN/Al~2O~3/Ta~2O~5/HfO~2/Si Structure for Fast Speed and Long Retention Operation
Wang, X.
/ Kwong, D.-L.
et al.
| 2006
78
Silicon Devices - A Novel High-k SONOS Memory Using TaN-Al2O3-Ta2O5-HfO2-Si Structure for Fast Speed and Long Retention Operation
Wang, X.
et al.
| 2006
83
An effective single-trap-level model for the proton-induced semi-insulating substrates
Chungpin Liao,
/ Jeng-Shin Hsu,
et al.
| 2006
83
Silicon Devices - An Effective Single-Trap-Level Model for the Proton-Induced Semi-Insulating Substrates
Liao, C.
et al.
| 2006
89
Silicon Devices - Monte Carlo Simulation of Substrate Enhanced Electron Injection in Split-Gate Memory Cells
Stefanutti, W.
et al.
| 2006
89
Monte Carlo simulation of substrate enhanced electron injection in split-gate memory cells
Stefanutti, W.
/ Palestri, P.
/ Akil, N.
et al.
| 2006
97
Impact of high tunneling electric fields on erasing instabilities in NOR flash memories
Chimenton, A.
/ Olivo, P.
et al.
| 2006
97
Silicon Devices - Impact of High Tunneling Electric Fields on Erasing Instabilities in NOR Flash Memories
Chimenton, A.
et al.
| 2006
103
Silicon Devices - Characterization of Programmed Charge Lateral Distribution in a Two-Bit Storage Nitride Flash Memory Cell by Using a Charge-Pumping Technique
Gu, S.-H.
et al.
| 2006
103
Characterization of programmed charge lateral distribution in a two-bit storage nitride flash memory cell by using a charge-pumping technique
Shaw-Hung Gu,
/ Tahui Wang,
/ Wen-Pin Lu,
et al.
| 2006
109
Silicon Devices - Highly Scalable Ballistic Injection AND-Type (BiAND) Flash Memory
Wu, M.-Y.
et al.
| 2006
109
Highly scalable ballistic injection AND-type (BiAND) flash memory
Meng-Yi Wu,
/ Sheng-Huei Dai,
/ Shu-Fen Hu,
et al.
| 2006
112
Parameterized SPICE model for a phase-change RAM device
Cobley, R.A.
/ Wright, C.D.
et al.
| 2006
112
Silicon Devices - Parameterized SPICE Model for a Phase-Change RAM Device
Cobley, R.A.
et al.
| 2006
119
Studies of the reverse read method and second-bit effect of 2-bit/cell nitride-trapping device by quasi-two-dimensional model
Hang-Ting Lue,
/ Tzu-Hsuan Hsu,
/ Min-Ta Wu,
et al.
| 2006
119
Silicon Devices - Studies of the Reverse Read Method and Second-Bit Effect of 2-Bit-Cell Nitride-Trapping Device by Quasi-Two-Dimensional Model
Lue, H.-T.
et al.
| 2006
126
Characterization of oxide trap energy by analysis of the SILC roll-off regime in flash memories
Ielmini, D.
/ Spinelli, A.S.
/ Visconti, A.
et al.
| 2006
126
Silicon Devices - Characterization of Oxide Trap Energy by Analysis of the SILC Roll-Off Regime in Flash Memories
Ielmini, D.
et al.
| 2006
135
Loop-based inductance extraction and modeling for multiconductor on-chip interconnects
Yu, S.
/ Petranovic, D.M.
/ Krishnan, S.
et al.
| 2006
135
Silicon Devices - Loop-Based Inductance Extraction and Modeling for Multiconductor On-Chip Interconnects
Yu, S.
et al.
| 2006
146
Improved short-channel FET performance with virtual extensions
Connelly, D.
/ Faulkner, C.
/ Clifton, P.A.
et al.
| 2006
146
Silicon Devices - Improved Short-Channel FET Performance With Virtual Extensions
Connelly, D.
et al.
| 2006
153
Impact of downscaling and poly-gate depletion on the RF noise parameters of advanced nMOS transistors
Nuttinck, S.
/ Scholten, A.J.
/ Tiemeijer, L.F.
et al.
| 2006
153
Solid-State Device Phenomena - Impact of Downscaling and Poly-Gate Depletion on the RF Noise Parameters of Advanced nMOS Transistors
Nuttinck, S.
et al.
| 2006
158
A charge-modulated FET for detection of biomolecular processes: conception, modeling, and simulation
Barbaro, M.
/ Bonfiglio, A.
/ Raffo, L.
et al.
| 2006
158
Solid-State Sensors and Actuators - A Charge-Modulated FET for Detection of Biomolecular Processes: Conception, Modeling, and Simulation
Barbaro, M.
et al.
| 2006
167
A fully integrated SOI RF MEMS technology for system-on-a-chip applications
Lingpeng Guan,
/ Sin, J.K.O.
/ Haitao Liu,
et al.
| 2006
167
Solid-State Sensors and Actuators - A Fully Integrated SOI RF MEMS Technology for System-on-a-Chip Applications
Guan, L.
et al.
| 2006
173
Comments on "Epitaxially grown GaN thin-film SAW filter with high velocity and low insertion loss"
Woods, R.C.
/ Boroumand, F.A.
et al.
| 2006
173
CORRESPONDENCE - Comments on "Epitaxially Grown GaN Thin-Film SAW Filter With High Velocity and Low Insertion Loss"
Woods, R.C.
et al.
| 2006
177
ANNOUNCEMENTS - Call for Papers for a Special Issue of the IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES on Advanced Compact Models and 45-nm Modeling Challenges
| 2006
177
Editorial: Changes in our society - A new constitution
| 2006
178
Special issue on smart power device reliability
| 2006
179
IEEE copyright form
| 2006
c1
Table of contents
| 2006
c2
IEEE Transactions on Electron Devices publication information
| 2006
c3
IEEE Transactions on Electron Devices information for authors
| 2006