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Band 44,
Ausgabe 6
Band 44,
Ausgabe 5
Band 44,
Ausgabe 4
Band 44,
Ausgabe 3
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Ausgabe 2
Band 44,
Ausgabe 1
Band 43,
Ausgabe supp
Band 43,
Ausgabe 6
Band 43,
Ausgabe 5
Band 43,
Ausgabe 4
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Ausgabe 3
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Ausgabe 2
Band 43,
Ausgabe 1
Band 42,
Ausgabe 6
Band 42,
Ausgabe 5
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Ausgabe 4
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Ausgabe 3
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Ausgabe 2
Band 42,
Ausgabe 1
Band 41,
Ausgabe 6
Band 41,
Ausgabe 5
Band 41,
Ausgabe 4
Band 41,
Ausgabe 3
Band 41,
Ausgabe 2
Band 41,
Ausgabe 1
Band 40,
Ausgabe 6
Band 40,
Ausgabe 5
Band 40,
Ausgabe 4
Band 40,
Ausgabe 3
Band 40,
Ausgabe 2
Band 40,
Ausgabe 1
Band 39,
Ausgabe supp
Band 39,
Ausgabe 6
Band 39,
Ausgabe 5
Band 39,
Ausgabe 4
Band 39,
Ausgabe 2
Band 39,
Ausgabe 1
Band 35,
Ausgabe supp
Band 35,
Ausgabe sup
Band 35,
Ausgabe 4
Band 35,
Ausgabe 3
Band 35,
Ausgabe 2
Band 35,
Ausgabe 1
Band 34,
Ausgabe supp
Band 34,
Ausgabe june
Band 34,
Ausgabe 5
Band 34,
Ausgabe 4
Band 34,
Ausgabe 3
Band 34,
Ausgabe 2
Band 34,
Ausgabe 1
Band 33,
Ausgabe supp
Band 33,
Ausgabe sup
Band 33,
Ausgabe 6
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Ausgabe 4
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Ausgabe 2
Band 33,
Ausgabe 1
Band 32,
Ausgabe supp
Band 32,
Ausgabe sup
Band 32,
Ausgabe 6
Band 32,
Ausgabe 5
Band 32,
Ausgabe 4
Band 32,
Ausgabe 3
Band 32,
Ausgabe 2
Band 32,
Ausgabe 1
Band 31,
Ausgabe supp
Band 31,
Ausgabe sup3
Band 31,
Ausgabe sup2
Band 31,
Ausgabe 6
Band 31,
Ausgabe 5
Band 31,
Ausgabe 4
Band 31,
Ausgabe 3
Band 31,
Ausgabe 2
Band 31,
Ausgabe 1
Band 30,
Ausgabe sup
Band 30,
Ausgabe 3
Band 30,
Ausgabe 2
Band 30,
Ausgabe 1
Band 29,
Ausgabe sup
Band 29,
Ausgabe conf
Band 29,
Ausgabe 6
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Band 29,
Ausgabe 3
Band 29,
Ausgabe 2
Band 29,
Ausgabe 1
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Ausgabe sup
Band 28,
Ausgabe 6
Band 28,
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Band 27,
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Band 27,
Ausgabe 6
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Ausgabe 3
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Band 26,
Ausgabe sup
Band 26,
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Inhaltsverzeichnis
46
Effects of Electrical Stress on the Mid-Gap Interface Trap Density and the Capture Cross Sections Characterized by Pulsed Interface Probing (PIP) Measurements
Kwon, H. I.
/ Kang, I. M.
/ Park, B.-G.
et al.
| 2004
50
Evanescent-Mode Analysis of Short-Channel Effects in MOSFETs
Lee, J.
/ Shin, H.
et al.
| 2004
56
Analysis of the Tsi-Dependent Subthreshold Characteristics in Lightly-Doped Asymmetric Double-Gate MOSFETs
Lee, H.
/ Shin, H.
et al.
| 2004
60
Reverse-Order Source/Drain with Double Offset Spacer Design Optimization for Sub-50-nm Low-Power MOSFETs
Choi, W. Y.
/ Choi, B. Y.
/ Woo, D.-S.
et al.
| 2004
65
Design of a 20 nm T-Gate MOSFET with a Source/Drain-to-Gate Non-Overlapped Structure
Lee, H.
/ Shin, H.
/ Lee, J.
et al.
| 2004
69
Characteristics of Conventional STI Process-Related Deep-Level Traps in Silicon
Kang, I. M.
/ Kwon, H. I.
/ Lee, M. W.
et al.
| 2004
73
An Efficient Method Including the Non-Quasistatic Effect for Frequency-Domain Simulation of Short Channel MOSFETs
Lee, K.-I.
/ Park, Y. J.
/ Min, H. S.
et al.
| 2004
79
CMOS Transistors with a 70-nm Gate Length for 0.13 mum-Node High-Performance Applications
Rha, K.-S.
/ Lyu, J.-H.
/ Jung, J.-S.
et al.
| 2004
83
Body-Tied Double-Gate SONOS Flash (Omega Flash) Memory Device Built on a Bulk Si Wafer
Cho, I. H.
/ Park, B. G.
/ Lee, J. D.
et al.
| 2004
87
Simulation of Quantum Effects and Nonlocal Transport by Using the Hydrodynamic Density-Gradient Model
Jin, S.
/ Park, Y. J.
/ Min, H. S.
et al.
| 2004
93
Reduction of of Hydrogen-Induced Degradation by Using a Phosphorus-Implantation Process
Lee, G.-W.
/ Lee, J.-H.
/ Choi, J.-H.
et al.
| 2004
97
Derivation of Drain Current Thermal Noise for Short-Channel MOSFETs Including the Velocity Saturation Effect
Han, K.
/ Lee, K.
/ Shin, H.
et al.
| 2004
103
Suppression of Hot-Electron-Induced Punchthrough on Buried-Channel pMOSFETs with 0.15mum Gate Lengths
Kwak, K. H.
/ Jang, J. H.
/ Hwang, B. J.
et al.
| 2004
108
Raised Source-Drain Transistors in a Cell and Support Area with Co-Silicide for 88-nm DRAM Technology and Beyond
Choi, Y. M.
/ Kim, J. Y.
/ Jeong, M. Y.
et al.
| 2004
112
Effective Capacitance Enhancement Methods for 90-nm DRAM Capacitors
Park, Y. K.
/ Ahn, Y. S.
/ Kim, S. B.
et al.
| 2004
117
SPICE-Compatible Floating-Dot Single-Electron Memory Model with a New Description of SOI MOSFETs Including Quantum-Mechanical Effects
Yu, Y. S.
/ Kim, S. H.
/ Choi, B. H.
et al.
| 2004
121
A SPICE Model of Realistic Single-Electron Transistors and Its Application to Multiple-Valued Logic
Song, K.-W.
/ Kim, K. R.
/ Lee, J. D.
et al.
| 2004
125
Electrical Properties and Fabrication of G3-16[TPY-Ru-TPY] Dendrimer Thin Films
Jung, S.-B.
/ Kwon, Y.-S.
/ Kim, C.
et al.
| 2004
129
Spectroscopic Ellipsometric Study of ZnO and Zn1-xMgxO Thin Films Grown on (0001) Sapphire Substrate
Kang, T. D.
/ Lee, H.
/ Park, W.-I.
et al.
| 2004
133
Effects of a Highly Si-Doped GaN Current Spreading Layer at the n^+-GaN/Multi-Quantum-Well Interface on InGaN/GaN Blue-Light-Emitting Diodes
Kim, C. S.
/ Cho, H. K.
/ Choi, R. J.
et al.
| 2004
137
Catalytic Growth and Optical Characterization of ZnO Nanowire on Silicon and Sapphire
Kim, J. Y.
/ Shim, H. W.
/ Suh, E.-K.
et al.
| 2004
140
Enhancement of the Electrical Properties of AlGaN/GaN HFETs by Using Undoped Semi-Insulating GaN
Jeong, Y. H.
/ Oh, C. S.
/ Shin, E. H.
et al.
| 2004
144
Low-Noise Characteristics of a 0.15 mum GaAs Power Metamorphic HEMT with a Double-Doped In0.52Al0.48As/In0.53Ga0.47As Structure
Shim, J. Y.
/ Yoon, H. S.
/ Lee, J. H.
et al.
| 2004
148
A New Structure for a High-Voltage SOI LDMOSFET for a PDP Scan Driver IC
Son, W.-S.
/ Choi, S.-y.
et al.
| 2004
153
Effects of Phosphorus Implantation and Subsequent Growth on the Surface Morphologies and the Electrical Properties of Diamond
Cho, E. S.
/ Park, B.-G.
/ Lee, J. D.
et al.
| 2004
157
Highly Sensitive Active Pixel Sensor Using a PMOSFET Photodetector
Park, J.-H.
/ Seo, S.-H.
/ Wang, I.-S.
et al.
| 2004
162
Formation of a Vertical MOSFET for Charge Sensing in a Si Micro-Fluidic Channel
Lyu, H.-K.
/ Kim, D.-S.
/ Shin, J.-K.
et al.
| 2004
167
C-V and Photoluminescence Properties of Alcohol Vapor Sensors Based on Porous Silicon
Kim, S.-J.
/ Lee, S.-H.
et al.
| 2004
172
ESD Degradation Analysis of Poly-Si N-Type TFTs by Employing a Transmission Line Pulser Test
Ha, M.-W.
/ Jeon, B.-C.
/ Han, M.-K.
et al.
| 2004
177
Influence of the Electric Field on the Ni-Induced Low-Temperature Crystallization of Amorphous Silicon Films
Kang, S.-m.
/ Ahn, J.-y.
/ Kim, Y.-b.
et al.
| 2004
181
Pentacene OTFTs with PVA Gate Insulators on a Flexible Substrate
Jin, S. H.
/ Yu, J. S.
/ Lee, C. A.
et al.
| 2004
185
Surface-State Modification of OTFT Gate Insulators by Using a Dilute PMMA Solution
Jin, S. H.
/ Kim, J. W.
/ Lee, C. A.
et al.
| 2004
190
Determination of All the Resistances within a Pixel of a TFT-LCD by Using a Three-Dimensional Simulation
Jung, S.-M.
/ Jang, S.-H.
/ Park, H.-D.
et al.
| 2004
195
Effect of the Shield Layer on Signal Interference for 3-D Integration
Chung, D.-Y.
/ Park, C.-B.
/ Pak, J. S.
et al.
| 2004