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Inhaltsverzeichnis
161
Reliability behaviour of electronic components as a function of time
Campbell, D.S.
/ Hayes, J.A.
/ Jones, J.A.
et al.
| 1992
167
The influence of temperature on integrated circuit failure mechanisms
Pecht, M.
/ Lall, P.
/ Hakim, E.B.
et al.
| 1992
177
Floating gate memories reliability
Crisenza, G.
/ Clementi, C.
/ Ghidini, G.
et al.
| 1992
189
Environmental testing and component reliability observations of telecommunications equipment operated in tropical climatic conditions
Nihal Sinnadurai
/ Kuppuswamy, T.S.
/ Chandramouli, R.
et al.
| 1992
195
Plastic encapsulated ICs in military equipment reliability prediction modelling
Brizoux, M.
/ Deleuze, G.
/ Digout, R.
et al.
| 1992
213
ASICs failure analysis using two complementary techniques: External electrical testing and internal contactless laser beam testing
Bouvet, C.
/ Fouillat, P.
/ Dom, J.P.
et al.
| 1992
219
Use of a CMOS static memory array as a technology test vehicle
Schmitt-Landsiedel, D.
/ Winnerl, J.
/ Neuendorf, G.
et al.
| 1992
239
Failure analysis of multilevel metallized LSI using optical beam induced current
Mitsuhashi, J.
/ Komori, S.
/ Tsubouchi, N.
et al.
| 1992
243
Ultrasonic microscope investigations of die attach quality and correlations with thermal resistance
Pfannschmidt, G.
et al.
| 1992
247
An extension of the rapid wafer-level WIJET method and its comparison with conventional electromigration testing
Jeuland, F.
/ Normandon, P.
/ Lormand, G.
et al.
| 1992
253
Electromigration at gold-aluminium interfaces and in thin aluminium tracks
Vanhecke, B.
/ Schepper, L. de
/ Ceunick, W. de
et al.
| 1992
259
ESD in integrated circuits
Ajith Amerasekera
/ Verwey, J.
et al.
| 1992
273
Transiently triggered latch-up in CMOS twin-tub and epitaxial technologies
Pavan, P.
/ Caprara, P.
/ Stucchi, M.
et al.
| 1992
279
Stability of interfaces in pseudomorphic InGaAs HEMTs
Audren, P.
/ Dumas, J.M.
/ Mottet, S.
et al.
| 1992
287
ESD induced degradation mechanisms of InGaAsP/InP lasers
Magistrali, F.
/ Sala, D.
/ Salmini, G.
et al.
| 1992
295
GaAs MMIC reliability studies
Anderson, W.T.
/ Roussos, J.A.
/ Christianson, K.A.
et al.
| 1992
301
Low frequency noise analysis to detect the influence of deep levels in AlGaAs/GaAs HEMTs
Labat, N.
/ D.Ouro Bodi
/ Touboul, A.
et al.
| 1992