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Inhaltsverzeichnis
16
System complexity and integrated diagnostics
Simpson, W.R.
/ Sheppard, J.W.
et al.
| 1991
31
Designing in power-down test circuits
Levy, P.S.
et al.
| 1991
36
Electrical characterization of megabit DRAMs. 1. External testing
Antonin, G.
/ Oberle, H.-D.
/ Kolzer, J.
et al.
| 1991
44
Increasing test accuracy by varying driver slew rate
Dahlberg, B.
et al.
| 1991
49
Reorganizing circuits to aid testability
Gupta, R.
/ Srinivasan, R.
/ Breuer, M.A.
et al.
| 1991
58
Pseudorandom testing for boundary-scan design with built-in self-test
Nagvajara, P.
/ Karpovsky, M.G.
/ Levitin, L.B.
et al.
| 1991