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Inhaltsverzeichnis
3
Polarimetric scattering from a layer of spatially oriented metamaterial small spheroids
Ye, H.-X.
/ Jin, Y.-Q.
et al.
| 2005
11
Photocurrent simulation in an n-p-n-p silicon multilayer solar cell
Bouzidi, A.
/ Bouazzi, A. S.
/ Rezig, B.
et al.
| 2005
17
Density measurement of W thin films coating by combination of ion beam analysis and scanning electron microscopy
Wang, C.
/ Brault, P.
/ Sauvage, T.
et al.
| 2005
23
Electronic conduction in 40 MeV28 Si5+ ion irradiated Se-Te-Pb thin films
Kamboj, Maninder Singh
/ Thangaraj, R.
/ Avasthi, D. K.
et al.
| 2005
27
Microstructure and morphology evolution in chemical solution deposited semiconductor films: 3. PbSe on GaAs vs. Si substrate
Shandalov, M.
/ Golan, Y.
et al.
| 2005
31
Diode-pumped passively Q-switched intracavity-frequency-doubling Nd:GdVO4 /KTP green laser with Cr4+ :YAG saturable absorber
Li, G.
/ Zhao, S.
/ Yang, K.
et al.
| 2005
37
Imaging atomically sharp crack tips in mica by contact mode AFM under ambient conditions
Gan, Y.
/ Chu, W.
/ Qiao, L.
et al.
| 2005
45
A comparative study of the behaviour of silver, copper and nickel submitted to a constant high power flux density
Abbaoui, M.
/ Lefort, A.
/ Clain, S.
et al.
| 2005
53
A general modelling and control algorithm of a three-phase multilevel diode clamped inverter by means of a direct space vector control
Bouhali, O.
/ Francois, B.
/ Berkouk, E. M.
et al.
| 2005
63
Metrological applications of Mueller polarimetry in conical diffraction for overlay characterization in microelectronics
Novikova, T.
/ De Martino, A.
/ Ossikovski, R.
et al.
| 2005
71
Estimation of local error by a neural model in an inverse scattering problem
Robert, S.
/ Mure-Rauvaud, A.
/ Thiria, S.
et al.
| 2005