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Band 15,
Ausgabe 6
Band 15,
Ausgabe 5
Band 15,
Ausgabe 4
Band 15,
Ausgabe 3
Band 15,
Ausgabe 2
Band 15,
Ausgabe 1
Band 14,
Ausgabe 12
Band 14,
Ausgabe 11
Band 14,
Ausgabe 10
Band 14,
Ausgabe 9
Band 14,
Ausgabe 8
Band 14,
Ausgabe 7
Band 14,
Ausgabe 6
Band 14,
Ausgabe 5
Band 14,
Ausgabe 4
Band 14,
Ausgabe 3
Band 14,
Ausgabe 2
Band 14,
Ausgabe 1
Band 13,
Ausgabe 12
Band 13,
Ausgabe 11
Band 13,
Ausgabe 10
Band 13,
Ausgabe 8
Band 13,
Ausgabe 7
Band 13,
Ausgabe 6
Band 13,
Ausgabe 5
Band 13,
Ausgabe 4
Band 13,
Ausgabe 3
Band 13,
Ausgabe 2
Band 13,
Ausgabe 1
Band 12,
Ausgabe 12
Band 12,
Ausgabe 11
Band 12,
Ausgabe 10
Band 12,
Ausgabe 9
Band 12,
Ausgabe 8
Band 12,
Ausgabe 7
Band 12,
Ausgabe 6
Band 12,
Ausgabe 5
Band 12,
Ausgabe 4
Band 12,
Ausgabe 3
Band 12,
Ausgabe 2
Band 12,
Ausgabe 1
Band 11,
Ausgabe 12
Band 11,
Ausgabe 11
Band 11,
Ausgabe 10
Band 11,
Ausgabe 9
Band 11,
Ausgabe 8
Band 11,
Ausgabe 7
Band 11,
Ausgabe 6
Band 11,
Ausgabe 5
Band 11,
Ausgabe 4
Band 11,
Ausgabe 3
Band 11,
Ausgabe 2
Band 11,
Ausgabe 1
Band 10,
Ausgabe 6
Band 10,
Ausgabe 5
Band 10,
Ausgabe 4
Band 10,
Ausgabe 3
Band 10,
Ausgabe 2
Band 10,
Ausgabe 1
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Inhaltsverzeichnis
3588
Methods for Determining the Collector Series Resistance in SiGe HBTs—A Review and Evaluation Across Different Technologies
Pawlak, Andreas
/ Krause, Julia
/ Schroter, Michael
et al.
| 2018
3600
Regaining Switching by Overcoming Single-Transistor Latch in Ge Junctionless MOSFETs
Gupta, Manish
/ Kranti, Abhinav
et al.
| 2018
3608
Analysis and Modeling of Temperature and Bias Dependence of Current Mismatch in Halo-Implanted MOSFETs
Gupta, Chetan
/ Dey, Sagnik
/ Agarwal, Harshit
et al.
| 2018
3617
Cryogenic MOS Transistor Model
Beckers, Arnout
/ Jazaeri, Farzan
/ Enz, Christian
et al.
| 2018
3626
Thermal Resistance Characterization for Multifinger SOI-MOSFETs
Gonzalez, Benito
/ Rodriguez, Raul
/ Lazaro, Antonio
et al.
| 2018
3633
Analytical Multistage Thermal Model for FEOL Reliability Considering Self-and Mutual-Heating
Chen, Wangyong
/ Cai, Linlin
/ Zhao, Kai
et al.
| 2018
3640
A Novel Approach to Control Source/Drain Cavity Profile for Device Performance Improvement
Lo, Hsien-Ching
/ Peng, Jianwei
/ Reis, Edward
et al.
| 2018
3646
Benchmarking of 3-D MOSFET Architectures: Focus on the Impact of Surface Roughness and Self-Heating
Badami, O.
/ Lizzit, D.
/ Driussi, F.
et al.
| 2018
3654
OFF-State Leakage and Performance Variations Associated With Germanium Preamorphization Implant in Silicon–Germanium Channel pFET
Tiwari, Vishal A.
/ Divakaruni, Rama
/ Hook, Terence B.
et al.
| 2018
3662
As-grown-Generation Model for Positive Bias Temperature Instability
Gao, Rui
/ Ji, Zhigang
/ Zhang, Jian Fu
et al.
| 2018
3669
Modeling Short-Channel Effects in Asymmetric Junctionless MOSFETs With Underlap
Jaiswal, Nivedita
/ Kranti, Abhinav
et al.
| 2018
3676
TaN Versus TiN Metal Gate Input/Output pMOSFETs: A Low-Frequency Noise Perspective
Simoen, Eddy
/ O'sullivan, Barry
/ Ritzenthaler, Romain
et al.
| 2018
3682
Cryogenic Characterization of 28-nm FD-SOI Ring Oscillators With Energy Efficiency Optimization
Bohuslavskyi, H.
/ Barraud, S.
/ Barral, V.
et al.
| 2018
3689
On the Apparent Non-Arrhenius Temperature Dependence of Charge Trapping in IIIV/High- ${k}$ MOS Stack
Putcha, Vamsi
/ Franco, Jacopo
/ Vais, Abhitosh
et al.
| 2018
3697
Collector Transport in SiGe HBTs Operating at Cryogenic Temperatures
Ying, Hanbin
/ Dark, Jason
/ Omprakash, Anup P.
et al.
| 2018
3704
Transferred-Substrate InP/GaAsSb Heterojunction Bipolar Transistor Technology With ${f}_{\text{max}}$ ~ 0.53 THz
Weimann, Nils G.
/ Johansen, Tom K.
/ Stoppel, Dimitri
et al.
| 2018
3711
Dielectric Engineering of HfO2 Gate-Stacks for Normally-ON GaN HEMTs on 200-mm Silicon Substrates
Chandrasekar, Hareesh
/ Kumar, Sandeep
/ Ganapathi, Kolla Lakshmi
et al.
| 2018
3719
Impact of Different Gate Biases on Irradiation and Annealing Responses of SiC MOSFETs
Hu, Dongqing
/ Zhang, Jingwei
/ Jia, Yunpeng
et al.
| 2018
3725
Thermally Grown TiO2 and Al2 O3 for GaN-Based MOS-HEMTs
Rawat, Akanksha
/ Meer, Mudassar
/ Surana, Vivek kumar
et al.
| 2018
3732
Self-Aligned Process for Selectively Etched p-GaN-Gated AlGaN/GaN-on-Si HFETs
Lukens, Gerrit
/ Hahn, Herwig
/ Kalisch, Holger
et al.
| 2018
3739
Effects of Rapid Thermal Annealing on Ar Inductively Coupled Plasma-Treated n-Type 4H-SiC Schottky and Ohmic Contacts
Cheng, Jung-Chien
/ Tsui, Bing-Yue
et al.
| 2018
3746
“Kink” in AlGaN/GaN-HEMTs: Floating Buffer Model
Singh, Manikant
/ Uren, Michael J.
/ Martin, Trevor
et al.
| 2018
3754
Germanium-Tin (GeSn) P-Channel Fin Field-Effect Transistor Fabricated on a Novel GeSn-on-Insulator Substrate
Lei, Dian
/ Lee, Kwang Hong
/ Huang, Yi-Chiau
et al.
| 2018
3762
Sub-10-nm-Diameter InGaAs Vertical Nanowire MOSFETs: Ni Versus Mo Contacts
Zhao, Xin
/ Heidelberger, Christopher
/ Fitzgerald, Eugene A.
et al.
| 2018
3769
High Endurance Ferroelectric Hafnium Oxide-Based FeFET Memory Without Retention Penalty
Ali, T.
/ Polakowski, P.
/ Riedel, S.
et al.
| 2018
3775
Resistive Switching Characteristics and Reliability of SiNx -Based Conductive Bridge Random Access Memory
Lin, Chun-An
/ Dai, Guang-Jyun
/ Tseng, Tseung-Yuen
et al.
| 2018
3780
Switching Voltage Analysis of Nanoelectromechanical Memory Switches for Monolithic 3-D CMOS-NEM Hybrid Reconfigurable Logic Circuits
Lee, Ho Moon
/ Jo, Hyun Chan
/ Kwon, Hyug Su
et al.
| 2018
3786
Application of Single-Pulse Charge Pumping Method on Evaluation of Indium Gallium Zinc Oxide Thin-Film Transistors
Nguyen, Manh-Cuong
/ Nguyen, An Hoang Thuy
/ Ji, Hyungmin
et al.
| 2018
3791
Flexible ZnO Thin-Film Transistors on Thin Copper Substrate
Huo, Wenxing
/ Mei, Zengxia
/ Zhao, Minglong
et al.
| 2018
3796
Flexible In–Ga–Zn–O Thin-Film Transistors With Sub-300-nm Channel Lengths Defined by Two-Photon Direct Laser Writing
Petti, Luisa
/ Greco, Emanuel
/ Cantarella, Giuseppe
et al.
| 2018
3803
The Effect of the Original Thickness of Ag in the Graphene–Ag Nanodots Transparent Conductive Layer on the Electrical and Optical Properties of GaN-Based UV-LEDs
Chen, Wei
/ Zhou, Yugang
/ Yu, Xianzheng
et al.
| 2018
3809
Integrated Thin-Film Radiation Detectors and In-Pixel Amplification
Avila-Avendano, Carlos
/ Mejia, Israel
/ Garcia-Lozano, Rodolfo
et al.
| 2018
3816
48-Channel Matrix Optical Transmitter on a Single Direct Fiber Connector
Li, Chenhui
/ Zhang, Xi
/ Li, Teng
et al.
| 2018
3823
A 125-klx Background Light Subtraction Architecture for 2-D and Time-of-Flight 3-D Cameras
Anand, Chandani
/ Priyadarshini, Neha
/ Jainwal, Kapil
et al.
| 2018
3831
Hole-Induced Threshold Voltage Shift Under Reverse-Bias Stress in E-Mode GaN MIS-FET
Hua, Mengyuan
/ Wei, Jin
/ Bao, Qilong
et al.
| 2018
3839
The Investigation of an IGBT With Hole-Carrier Movement Control
Li, Junhong
/ Xiao, Kun
/ Hu, Bin
et al.
| 2018
3848
Enhancement of Breakdown Voltage in AlGaN/GaN HEMTs: Field Plate Plus High- ${k}$ Passivation Layer and High Acceptor Density in Buffer Layer
Kabemura, Toshiki
/ Ueda, Shingo
/ Kawada, Yuki
et al.
| 2018
3855
Failure Mechanism of a Low-Energy-Triggered Bulk Gallium Arsenide Avalanche Semiconductor Switch: Simulated Analysis and Experimental Results
Hu, Long
/ Su, Jiancang
/ Qiu, Ruicheng
et al.
| 2018
3862
Optimization of ${V}_{\text{CE}}$ Plateau for Deep-Oxide Trench SOI Lateral IGBT During Inductive Load Turn-OFF
Zhang, Long
/ Zhu, Jing
/ Cao, Shilin
et al.
| 2018
3869
Doping Profile Optimization for Power Devices Using Topology Optimization
Nomura, Katsuya
/ Kondoh, Tsuguo
/ Ishikawa, Tsuyoshi
et al.
| 2018
3878
Gate Control Scheme of Monolithically Integrated Normally OFF Bidirectional 600-V GaN HFETs
Wolf, Mihaela
/ Hilt, Oliver
/ Wurfl, Joachim
et al.
| 2018
3884
Understanding Electromigration in Cu-CNT Composite Interconnects: A Multiscale Electrothermal Simulation Study
Lee, Jaehyun
/ Berrada, Salim
/ Adamu-Lema, Fikru
et al.
| 2018
3893
Edge-Oxidized Germanene Nanoribbons for Nanoscale Metal Interconnect Applications
Sharma, Varun
/ Srivastava, Pankaj
/ Jaiswal, Neeraj K.
et al.
| 2018
3901
Evaluation of Electric and Dielectric Properties of Metal–Semiconductor Structures With 2% GC-Doped-(Ca3 Co4 Ga0.001 Ox ) Interlayer
Maril, Elif
/ Tan, Serhat Orkun
/ Altindal, Semsettin
et al.
| 2018
3909
Influence of Body Effect on Sample-and-Hold Circuit Design Using Negative Capacitance FET
Liang, Yuhua
/ Li, Xueqing
/ George, Sumitha
et al.
| 2018
3915
Detection of Hot Carrier Generated Phonon Using the Gate-Induced Drain Leakage in the Silicon Chip
Yoo, Nak Won
/ Yun, Jun Yeon
/ Park, Young June
et al.
| 2018
3922
Assessing Lock-On Physics in Semi-Insulating GaAs and InP Photoconductive Switches Triggered by Subbandgap Excitation
Chowdhury, Animesh R.
/ Ness, Richard
/ Joshi, Ravi P.
et al.
| 2018
3930
Transient Analysis for Electrothermal Properties in Nanoscale Transistors
Cheng, Aiqiang
/ Chen, Shitao
/ Zeng, Hui
et al.
| 2018
3936
A Closed-Form Expression of the Drain Current of Asymmetric Double-Gate OTFTs
Colalongo, Luigi
et al.
| 2018
3943
Simple and Fast Approach for Synthesis of Reduced Graphene Oxide–MoS2 Hybrids for Room Temperature Gas Detection
Kumar, Rajesh
/ Dias, Wagner
/ Rubira, Rafael J. G.
et al.
| 2018
3950
An Accurate TCAD-Based Model for ISFET Simulation
Mohammadi, Ehsan
/ Manavizadeh, Negin
et al.
| 2018
3957
The Nonlinear Analysis on a 210/240/270-GHz Megawatt-Class Gyrotron for DEMOs
Liu, Qiao
/ Niu, Xinjian
/ Wang, Lina
et al.
| 2018
3963
A 45-GHz/20-kW Gyrotron-Based Microwave Setup for the Fourth-Generation ECR Ion Sources
Denisov, Gregory G.
/ Glyavin, Mikhail Yu
/ Tsvetkov, Alexander I.
et al.
| 2018
3970
Study of Performance Improvement for a ${Q}$ -Band Sheet-Beam Traveling-Wave Tube
Shu, Guoxiang
/ Wang, Jianxun
/ Liu, Guo
et al.
| 2018
3976
Improved Synaptic Behavior of CBRAM Using Internal Voltage Divider for Neuromorphic Systems
Lim, Seokjae
/ Kwak, Myounghoon
/ Hwang, Hyunsang
et al.
| 2018
3982
Electrically Driven Insulator–Metal Transition-Based Devices—Part I: The Electrothermal Model and Experimental Analysis for the DC Characteristics
Lin, Jianqiang
/ Ramanathan, Shriram
/ Guha, Supratik
et al.
| 2018
3989
Electrically Driven Insulator–Metal Transition-Based Devices—Part II: Transient Characteristics
Lin, Jianqiang
/ Ramanathan, Shriram
/ Guha, Supratik
et al.
| 2018
3996
Modeling and System-Level Simulation for Nonideal Conductance Response of Synaptic Devices
Gi, Sang-Gyun
/ Yeo, Injune
/ Chu, Myonglae
et al.
| 2018
4004
Enhancement-Mode Recessed Gate and Cascode Gate Junctionless Nanowire With Low-Leakage and High-Drive Current
Wong, Hiu Yung
/ Braga, Nelson
/ Mickevicius, R. V.
et al.
| 2018
4009
Charge-Based Model for Ultrathin Junctionless DG FETs, Including Quantum Confinement
Shalchian, Majid
/ Jazaeri, Farzan
/ Sallese, Jean-Michel
et al.
| 2018
4015
DIBL–Compensated Extraction of the Channel Length Modulation Coefficient in MOSFETs
Hiblot, Gaspard
et al.
| 2018
4019
Comments on “Highly Biased Linear Condition Method for Separately Extracting Source and Drain Resistance in MOSFETs”
Ortiz-Conde, Adelmo
/ Garcia-Sanchez, Francisco J.
et al.
| 2018
4022
Reply to Comments by Ortiz-Conde et al.
Kim, Gun-Hee
/ Bae, Hagyoul
/ Hur, Jae
et al.
| 2018
4025
Call for Papers for a Special Issue of IEEE Transactions on Electron Devices on Reliability of CMOS Logic, Memory, Power and Beyond CMOS Devices
| 2018
4026
Introducing IEEE Collabratec
| 2018
4027
Together, we are advancing technology
| 2018
4028
IEEE Access
| 2018
C1
Table of contents
| 2018
C2
IEEE Transactions on Electron Devices publication information
| 2018
C3
IEEE Transactions on Electron Devices information for authors
| 2018
Blank page
| 2018