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Band 15,
Ausgabe 6
Band 15,
Ausgabe 5
Band 15,
Ausgabe 4
Band 15,
Ausgabe 3
Band 15,
Ausgabe 2
Band 15,
Ausgabe 1
Band 14,
Ausgabe 12
Band 14,
Ausgabe 11
Band 14,
Ausgabe 10
Band 14,
Ausgabe 9
Band 14,
Ausgabe 8
Band 14,
Ausgabe 7
Band 14,
Ausgabe 6
Band 14,
Ausgabe 5
Band 14,
Ausgabe 4
Band 14,
Ausgabe 3
Band 14,
Ausgabe 2
Band 14,
Ausgabe 1
Band 13,
Ausgabe 12
Band 13,
Ausgabe 11
Band 13,
Ausgabe 10
Band 13,
Ausgabe 8
Band 13,
Ausgabe 7
Band 13,
Ausgabe 6
Band 13,
Ausgabe 5
Band 13,
Ausgabe 4
Band 13,
Ausgabe 3
Band 13,
Ausgabe 2
Band 13,
Ausgabe 1
Band 12,
Ausgabe 12
Band 12,
Ausgabe 11
Band 12,
Ausgabe 10
Band 12,
Ausgabe 9
Band 12,
Ausgabe 8
Band 12,
Ausgabe 7
Band 12,
Ausgabe 6
Band 12,
Ausgabe 5
Band 12,
Ausgabe 4
Band 12,
Ausgabe 3
Band 12,
Ausgabe 2
Band 12,
Ausgabe 1
Band 11,
Ausgabe 12
Band 11,
Ausgabe 11
Band 11,
Ausgabe 10
Band 11,
Ausgabe 9
Band 11,
Ausgabe 8
Band 11,
Ausgabe 7
Band 11,
Ausgabe 6
Band 11,
Ausgabe 5
Band 11,
Ausgabe 4
Band 11,
Ausgabe 3
Band 11,
Ausgabe 2
Band 11,
Ausgabe 1
Band 10,
Ausgabe 6
Band 10,
Ausgabe 5
Band 10,
Ausgabe 4
Band 10,
Ausgabe 3
Band 10,
Ausgabe 2
Band 10,
Ausgabe 1
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Inhaltsverzeichnis
201
An investigation of graded and uniform base Ge(x)Sei(1-x) HBT's using a Monte Carlo simulation
Hughes, D.T.
/ Abram, R.A.
/ Kelsall, R.W.
et al.
| 1994
209
Breakdown analysis of an asymmetrical double recessed power MESFET's
Gaquiere, C.
/ Bonte, B.
/ Theron, D.
et al.
| 1994
215
Direct measurement of the carrier leakage out of the active region in InGaAsP/InP laser heterostructures
Belenky, G.L.
/ Kazarinov, R.F.
/ Lopata, J.
et al.
| 1994
219
Low frequency noise characteristics of self-aligned AlGaAs/GaAs power heterojunction bipolar transistors
Tutt, M.N.
/ Pavlidis, D.
/ Khatibzadeh, A.
et al.
| 1994
231
Cutoff frequency and responsivity limitation of AlInAs/GaInAs MSM PD using a two dimensional bipolar physical model
Ashour, I.S.
/ El Kadi, H.
/ Sherif, K.
et al.
| 1994
239
Evaluation of the bonded silicon on insulator (SOI) wafer and the characteristics of PIN photodiodes on the bonded SOI wafer
Usami, A.
/ Kaneko, K.
/ Fujii, Y.
et al.
| 1994
244
Monolithic CCD imagers in HgCdTe
Wasworth, M.V.
/ Borrelo, S.R.
/ Dodge, J.
et al.
| 1994
251
High performance poly-Si TFTs fabricated using pulsed laser annealing and remote plasma CVD with low temperature processing
Kohno, A.
/ Sameshima, T.
/ Sano, S.
et al.
| 1994
266
Precise extraction of emitter resistance from an improved floating collector measurement
Morizuka, K.
/ Hidaka, O.
/ Mochizuki, H.
et al.
| 1994
288
Transconductance enhancement due to back bias for submicron NMOSFET
Guo, J.C.
/ Chang, M.C.
/ Lu, C.Y.
et al.
| 1994
295
An advanced technique for fabricating hemispherical-grained (HSG) silicon storage electrodes
Watanabe, H.
/ Tatsumi, T.
/ Ikarashi, T.
et al.
| 1994
301
An improved analytical solution of energy balance equation for short-channel SOI MOSFET's and transverse-field-induced carrier heating
Omura, Y.
et al.
| 1994
307
Characteristics of self-induced lightly-doped-drain polycrystalline silicon thin film transistors with liquid-phase deposition SiO2 as gate-insulator and passivation-layer
Yeh, C.F.
/ Yang, T.Z.
/ Chen, T.J.
et al.
| 1994
321
Base current reversal phenomenon in a CMOS compatible high gain n-p-n gated lateral bipolar transistor
Huang, T.H.
/ Chen, M.J.
et al.
| 1994
334
Forward biased safe operating area of emitter switched thyristors
Iwamuro, N.
/ Shekar, M.S.
/ Jayant Baliga, B.
et al.
| 1994
340
Beam focusing for field-emission flat-panel displays
Kesling, W.D.
/ Hunt, C.E.
et al.
| 1994
356
Characteristics of new dielectric isolation wafers for high voltage power IC's by single-Si poly-Si direct bonding (SPSDB) technique
Inoue, Y.
/ Sugawara, Y.
/ Kurita, S.
et al.
| 1994
360
Long-term bias temperature reliability of P(+) polysilicon gated FET devices
Abadeer, W.W.
/ Tonti, W.R.
/ Hänsch, W.E.
et al.
| 1994
367
The modified structure of the lateral IGBT on the SOI wafer for improving the dynamic latch-up characteristics
Sumida, H.
/ Hirabayashi, A.
/ Kumagai, N.
et al.
| 1994
2233
Currents and current gain analysis of passivated heterojunction bipolar transistor (HBT)
Zebda, Y.
/ Qasaimeh, O.
et al.
| 1994
2233
Currents and Current Gain Analysis of Passivated Heterojunction Bipolar Transistors (HBT)
Zebda, Y.
et al.
| 1994
2241
How to Make an Ideal HBT and Sell it Too
Luryi, S.
et al.
| 1994
2248
A New Physical Model of the Light Amplifying Optical Switch
Zebda, Y.
et al.
| 1994
2248
A new physical model of the light amplifying optical switch (LAOS)
Zebda, Y.
/ Qasaimeh, O.
et al.
| 1994
2256
Two-Dimensional Analysis of Substrate-Related Kink Phenomena in GaAs MESFET's
Horio, K.
et al.
| 1994
2262
Improved Model for Kink Effect in AlGaAs-InGaAs Heterojunction FET's
Hori, Y.
et al.
| 1994
2268
Physics of Breakdown in InAlAs-n+-InGaAs Heterostructure Field-Effect Transistors
Bahl, S.R.
et al.
| 1994
2276
Drawbacks to Using NIST Electromigration Test-Structures to Test Bamboo Metal Lines
Munari, I.De
et al.
| 1994
2281
Fabrication of Submicron Junctions--Proximity Rapid Thermal Diffusion of Phosphorus, Boron, and Arsenic
Zagozdzon-Wosik, W.
et al.
| 1994
2291
Analysis of Photoelectric Conversion Characteristics Under Knee Control Operation for CCD Imagers
Nakamura, N.
et al.
| 1994
2297
Room Temperature Electroabsorption in a GexSi1 - x PIN Photodiode
Murtaza, S.
et al.
| 1994
2301
Double-Drift Avalanche Photodetectors
Loach Jr, B.C.De
et al.
| 1994
2305
Analysis of Resistance Behavior in Ti- and Ni-Salicided Polysilicon Films
Ohguro, T.
et al.
| 1994
2318
A Quadruple Well, Quadruple Polysilicon BiCMOS Process for Fast 16 Mb SRAM's
Hayden, J.D.
et al.
| 1994
2326
Determining the Drain Doping in DMOS Transistors Using the Hump in the Leakage Current
Zupac, D.
et al.
| 1994
2337
A New Technique for Measuring Coupling Coefficients and 3-D Capacitance Characterization of Floating-Gate Devices
Choi, W.L.
et al.
| 1994
2343
Application of Selective Epitaxial Silicon and Chemo-Mechanical Polishing to Bipolar Transistors
Nguyen, C.T.
et al.
| 1994
2351
Hot-Carrier-Injected Oxide Region in Front and Back Interfaces in Ultra-Thin (50 nm), Fully Depleted, Deep-Submicron NMOS and PMOSFET's-SIMOX and their Hot Carrier Immunity
Tsuchiya, T.
et al.
| 1994
2357
On the Universality of Inversion Layer Mobility in Si MOSFET's: Part I--Effects of Substrate Impurity Concentration
Takagi, S.
et al.
| 1994
2363
On the Universality of Inversion Layer Mobility in Si MOSFETts: Part II--Effects of Surface Orientation
Takagi, S.
et al.
| 1994
2363
On the Universality of Inversion Layer Mobility in Si MOSFET's: Part II - Effects of Surface Orientation
Takagi, S.
/ Toriumi, A.
/ Iwase, M.
et al.
| 1994
2369
Characteristics of Sub-1-4-mm Gate Surface Channel PMOSFET's using a Multilayer Gate Structure of Boron-Doped Poly-Si on Thin Nitrogen-Doped Poly-Si
Okazaki, Y.
et al.
| 1994
2369
Characteristics of Sub-1/4-m Gate Surface Channel PMOSFET'sa using a Multilayer Gate Structure of Boron-Doped Poly-Si on Thin Nitrogen-Doped Poly-Si
Okazaki, Y.
/ Nakayama, S.
/ Miyake, M.
et al.
| 1994
2369
Characteristics of sub-1/4-micron gate surface channel PMOSFET's using a multilayer gate structure of boron-doped poly-Si on thin nitrogen-doped poly-Si
Okazaki, Y.
/ Nakayama, S.
/ Miyake, M.
et al.
| 1994
2376
Electrical and Optical Speed Measurements on the Silicon Heterostructure Switch
Green, R.J.
et al.
| 1994
2385
Transient Base Dynamics of Bipolar Transistors in High Injection
Seitchik, J.A.
et al.
| 1994
2391
Influence of Lattice Self-Heating and Hot-Carrier Transport on Device Performance
Liang, M.
et al.
| 1994
2399
Inverter performance of 0.10 micron CMOS operating at room temperature
Inaba, S.
/ Mizuno, T.
/ Iwase, M.
et al.
| 1994
2399
Inverter Performance of 0.10 m CMOS Operating at Room Temperature
Inaba, S.
/ Mizuno, T.
/ Iwase, M.
et al.
| 1994
2399
Inverter Performance of 0.10 mm CMOS Operating at Room Temperature
Inaba, S.
et al.
| 1994
2405
A Room Temperature 0.1 mm CMOS on SOI
Shahidi, G.G.
et al.
| 1994
2405
A Room Temperature 0.1 m CMOS on SOI
Shahidi, G. G.
/ Anderson, C. A.
/ Chappell, B. A.
et al.
| 1994
2413
Investigation of Carrier Generation in Fully Depleted Enhancement and Accumulation Mode SOI MOSFET's
Sinha, S.P.
et al.
| 1994
2417
Stress-Induced Current in Nitride and Oxidized Nitride Thin Films
Mazumder, M.K.
et al.
| 1994
2423
Arriving at a Unified Model for Hot-Carrier Degradation in MOSFET's Through Gate-to-Drain Capacitance Measurement
Ghodsi, R.
et al.
| 1994
2430
Si-Si1 - xGex Valence Band Discontinuity Measurements Using a Semiconductor-Insulator-Semiconductor (SIS) Heterostructure
Gan, C.H.
et al.
| 1994
2440
General Drift-Diffusion Theory of the Current Density in Schottky Diodes
Mieghem, P.Van
et al.
| 1994
2448
Secondary Electron Emission Properties of Oxidized Beryllium CFA Cathodes
Shih, A.
et al.
| 1994
2455
Stochastic Extension of Synchronism Time
Davidovsky, V.Y.
et al.
| 1994
2460
Characterization of an Impregnated Scandate Cathode Using a Semiconductor Model
Raju, R.S.
et al.
| 1994
2468
Turnoff Transient Characteristics of Complementary Insulated-Gate Bipolar Transistor
Li, Z.
et al.
| 1994
2471
Miller's Approximation in Advanced Bipolar Transistors Under Nonlocal Impact Ionization Conditions
Kumar, M.J.
et al.
| 1994
2473
Simulation of High-Efficiency n+p Indium Phosphide Solar Cell Results and Future Improvements
Jain, R.K.
et al.
| 1994
2475
Interface Trap Effect on Gate Induced Drain Leakage Current in Submicron N-MOSFET's
Wang, T.
et al.
| 1994
2477
Nonuniform Reverse-Breakdown Characteristics of n+-Diodes Fabricated by LOCOS and Trench Isolation
Ohzone, T.
et al.
| 1994
2480
A New Approach to Current-Voltage Characteristics Formation for Short-Channel MOSFET's
Wong, H.
et al.
| 1994
2482
An Orthogonal-Transfer CCD Imager
Burke, B.E.
et al.
| 1994
2484
1994 INDEX
| 1994