Bistable damage in neutron-irradiated silicon diodes (Englisch)
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In:
Radiation effects on semiconductor materials, detectors and devices
3
;
565-568
;
2002
-
ISSN:
- Aufsatz (Konferenz) / Print
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Titel:Bistable damage in neutron-irradiated silicon diodes
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Beteiligte:Cindro, V. ( Autor:in ) / Kolar, J. ( Autor:in ) / Kramberger, G. ( Autor:in ) / Mikuz, M. ( Autor:in ) / Zavrtanik, M. ( Autor:in ) / Borchi, E. / Bruzzi, M.
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Kongress:International conference; 3rd, Radiation effects on semiconductor materials, detectors and devices ; 2000 ; Florence, Italy
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Erschienen in:NUCLEAR INSTRUMENTS AND METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A ; 476, 3 ; 565-568
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Verlag:
- Neue Suche nach: North-Holland
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Erscheinungsdatum:01.01.2002
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Format / Umfang:4 pages
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Anmerkungen:Also known as RESMDD 2000-F2K
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ISSN:
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Medientyp:Aufsatz (Konferenz)
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Format:Print
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Datenquelle:
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