Test and quality control of double-sided silicon microstrip sensors for the ALICE experiment (Englisch)
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In:
Proceedings of the 6th international conference on large scale applications and radiation hardness of semiconductor detectors: Florence, Italy September 29-October 1, 2003 /
1-2
;
59-64
;
2003
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ISSN:
- Aufsatz (Konferenz) / Print
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Titel:Test and quality control of double-sided silicon microstrip sensors for the ALICE experiment
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Beteiligte:Rachevskaia, I. ( Autor:in ) / Bosisio, L. ( Autor:in ) / Potin, S. ( Autor:in ) / Starodubtsev, O. ( Autor:in ) / Civinini, Carlos / Focardi, Ettore
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Kongress:6th, Proceedings of the 6th international conference on large scale applications and radiation hardness of semiconductor detectors: Florence, Italy September 29-October 1, 2003 / ; 2003 ; Florence, Italy
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Erschienen in:NUCLEAR INSTRUMENTS AND METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A ; 530, 1-2 ; 59-64
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Verlag:
- Neue Suche nach: Elsevier
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Erscheinungsort:Amsterdam, Netherlands
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Erscheinungsdatum:01.01.2003
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Format / Umfang:6 pages
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Anmerkungen:Includes bibliographical references and index.
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ISSN:
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Medientyp:Aufsatz (Konferenz)
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Format:Print
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Datenquelle:
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