Correlation Between Static and Dynamic Parameters of A-to-D Converters In the View of a Unique Test Procedure (Englisch)
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In:
IEEE Special issue on the third IEEE Latin American test workshop
4
;
375-387
;
2004
-
ISSN:
- Aufsatz (Konferenz) / Print
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Titel:Correlation Between Static and Dynamic Parameters of A-to-D Converters In the View of a Unique Test Procedure
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Beteiligte:Azais, F. ( Autor:in ) / Bernard, S. ( Autor:in ) / Bertrand, Y. ( Autor:in ) / Comte, M. ( Autor:in ) / Renovell, M. ( Autor:in ) / Vargas, Fabian / Champac, Victor / IEEE
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Kongress:Workshop; 3rd, IEEE Special issue on the third IEEE Latin American test workshop ; 2002 ; Montevideo, Uruguay
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Erschienen in:JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING ; 20, 4 ; 375-387
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Verlag:
- Neue Suche nach: Kluwer Academic Publishers
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Erscheinungsdatum:01.01.2004
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Format / Umfang:13 pages
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Anmerkungen:Also known as LATW2002.
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ISSN:
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Medientyp:Aufsatz (Konferenz)
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Format:Print
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Datenquelle:
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