Scanning-Tunneling Microscopy Assisted by Synchrotron Radiation Light for High-resolution Element Specific Imaging (Japanisch)
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- Neue Suche nach: Surface Science Society of Japan
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- Neue Suche nach: Surface Science Society of Japan
In:
Surface Science Society of Japan
9
;
452-458
;
2010
-
ISSN:
- Aufsatz (Konferenz) / Print
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Titel:Scanning-Tunneling Microscopy Assisted by Synchrotron Radiation Light for High-resolution Element Specific Imaging
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Beteiligte:Okuda, T. ( Autor:in ) / Eguchi, T. ( Autor:in ) / Akiyama, K. ( Autor:in ) / Kinoshita, T. ( Autor:in ) / Hasegawa, Y. ( Autor:in ) / Surface Science Society of Japan
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Kongress:Conference; 29th, Surface Science Society of Japan ; 2010
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Erschienen in:Surface Science Society of Japan , 9 ; 452-458JOURNAL- SURFACE SCIENCE SOCIETY OF JAPAN ; 31, 9 ; 452-458
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Verlag:
- Neue Suche nach: Surface Science Society of Japan
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Erscheinungsdatum:01.01.2010
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Format / Umfang:7 pages
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Anmerkungen:For More Selected Papers See Same S/M VOL 31 Parts 7-8 2010
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ISSN:
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Medientyp:Aufsatz (Konferenz)
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Format:Print
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Sprache:Japanisch
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Schlagwörter:
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Datenquelle:
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