Graphene on C-terminated face of 4H-SiC observed by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry (Englisch)
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In:
Scanning probe microscopy
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08NB02-08NB02
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2016
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ISSN:
- Aufsatz (Konferenz) / Print
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Titel:Graphene on C-terminated face of 4H-SiC observed by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry
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Beteiligte:Yamasue, Kohei ( Autor:in ) / Fukidome, Hirokazu ( Autor:in ) / Tashima, Keiichiro ( Autor:in ) / Suemitsu, Maki ( Autor:in ) / Cho, Yasuo ( Autor:in )
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Kongress:Scanning probe microscopy ; 2015 ; Hokkaido, Japan
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Erschienen in:Scanning probe microscopy ; 08NB02-08NB02Japanese journal of applied physics ; 55 ; 08NB02-08NB02
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Verlag:
- Neue Suche nach: IOP Publishing
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Erscheinungsdatum:01.01.2016
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Format / Umfang:08NB02-08NB02
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ISSN:
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Medientyp:Aufsatz (Konferenz)
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Format:Print
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Sprache:Englisch
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Datenquelle:
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