Evaluating the SEE Sensitivity of a 45 nm SOI Multi-Core Processor Due to 14 MeV Neutrons (Englisch)
- Neue Suche nach: Ramos, P.
- Neue Suche nach: Vargas, V.
- Neue Suche nach: Baylac, M.
- Neue Suche nach: Villa, F.
- Neue Suche nach: Rey, S.
- Neue Suche nach: Clemente, J. A.
- Neue Suche nach: Zergainoh, N.-E.
- Neue Suche nach: Méhaut, J.-F.
- Neue Suche nach: Velazco, R.
- Neue Suche nach: Ramos, P.
- Neue Suche nach: Vargas, V.
- Neue Suche nach: Baylac, M.
- Neue Suche nach: Villa, F.
- Neue Suche nach: Rey, S.
- Neue Suche nach: Clemente, J. A.
- Neue Suche nach: Zergainoh, N.-E.
- Neue Suche nach: Méhaut, J.-F.
- Neue Suche nach: Velazco, R.
In:
2015 Conference on Radiation and It's Effects on Components and Systems (RADECS)
;
2193-2200
;
2016
-
ISSN:
- Aufsatz (Konferenz) / Print
-
Titel:Evaluating the SEE Sensitivity of a 45 nm SOI Multi-Core Processor Due to 14 MeV Neutrons
-
Beteiligte:Ramos, P. ( Autor:in ) / Vargas, V. ( Autor:in ) / Baylac, M. ( Autor:in ) / Villa, F. ( Autor:in ) / Rey, S. ( Autor:in ) / Clemente, J. A. ( Autor:in ) / Zergainoh, N.-E. ( Autor:in ) / Méhaut, J.-F. ( Autor:in ) / Velazco, R. ( Autor:in )
-
Kongress:2015 Conference on Radiation and It's Effects on Components and Systems (RADECS)
-
Erschienen in:IEEE transactions on nuclear science ; 63 ; 2193-2200
-
Verlag:
- Neue Suche nach: Professional Technical Group on Nuclear Science
-
Erscheinungsdatum:01.01.2016
-
Format / Umfang:8 pages
-
ISSN:
-
Medientyp:Aufsatz (Konferenz)
-
Format:Print
-
Sprache:Englisch
-
Datenquelle:
© Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.