(Invited) Total Dose Effects and Single Event Upsets During Radiation Damage of GaN and SiC (Englisch)
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In:
240th Electrochemical Society meeting (ECS)
;
1317-1317
;
2021
-
ISSN:
- Aufsatz (Konferenz) / Print
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Titel:(Invited) Total Dose Effects and Single Event Upsets During Radiation Damage of GaN and SiC
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Beteiligte:Khachatrian, Ani ( Autor:in ) / Ildefonso, Adrian ( Autor:in ) / Islam, Zahabul ( Autor:in ) / Abu Jafar Rasel, Md ( Autor:in ) / Haque, Amanul ( Autor:in ) / Kim, Jihyun ( Autor:in ) / Ren, Fan ( Autor:in ) / Xian, Minghan ( Autor:in ) / Pearton, Stephen J. ( Autor:in )
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Kongress:240th Electrochemical Society meeting (ECS)
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Erschienen in:240th Electrochemical Society meeting (ECS) ; 1317-1317Meeting abstracts ; 240 ; 1317-1317
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Verlag:
- Neue Suche nach: Electrochemical Society
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Erscheinungsdatum:01.01.2021
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Format / Umfang:1 pages
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ISSN:
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Medientyp:Aufsatz (Konferenz)
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Format:Print
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Sprache:Englisch
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Datenquelle:
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