Industry Evaluation of Reversible Scan Chain Diagnosis (Englisch)
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In:
2022 IEEE International test conference (ITC 2022)
;
420-426
;
2022
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ISSN:
- Aufsatz (Konferenz) / Print
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Titel:Industry Evaluation of Reversible Scan Chain Diagnosis
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Beteiligte:Mittal, Soumya ( Autor:in ) / Urban, Szczepan ( Autor:in ) / Chung, Kun Young ( Autor:in ) / Janicki, Jakub ( Autor:in ) / Cheng, Wu-Tung ( Autor:in ) / Parley, Martin ( Autor:in ) / Sharma, Manish ( Autor:in ) / Nicholson, Shaun ( Autor:in )
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Kongress:2022 IEEE International test conference (ITC 2022)
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Erschienen in:Proceedings ; 2022 ; 420-426
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Verlag:
- Neue Suche nach: IEEE Computer Society Press
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Erscheinungsdatum:01.01.2022
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Format / Umfang:7 pages
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ISSN:
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Medientyp:Aufsatz (Konferenz)
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Format:Print
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Sprache:Englisch
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Datenquelle:
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