On the Quality of Accumulator-Based Compaction of Test Responses (Deutsch)
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- Neue Suche nach: Hayes, J. P.
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In:
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS
;
16
, 8
;
916-922
;
1997
-
ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Print
-
Titel:On the Quality of Accumulator-Based Compaction of Test Responses
-
Beteiligte:Chakrabarty, K. ( Autor:in ) / Hayes, J. P. ( Autor:in )
-
Erschienen in:
-
Verlag:
- Neue Suche nach: IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS
-
Erscheinungsdatum:01.01.1997
-
Format / Umfang:7 pages
-
ISSN:
-
Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
-
Format:Print
-
Sprache:Deutsch
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-
Klassifikation:
-
Datenquelle:
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Inhaltsverzeichnis – Band 16, Ausgabe 8
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Externally Hazard-Free Implementations of Asynchronous Contorl CircuitsSawasaki, M. H. / Ykman-Couvreur, C. / Lin, B. et al. | 1997
- 793
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A Region-Based Theory for State Assignment in Speed-Independent CircuitsCortadella, J. et al. | 1997
- 813
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Logic Decomposition During Technology MappingLehman, E. et al. | 1997
- 835
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Externally Hazard-Free Implementations of Asynchronous Control CircuitsSawasaki, M.H. et al. | 1997
- 849
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An Evaluation of Bipartitioning TechniquesHauck, S. et al. | 1997
- 867
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A Sequential Quadratic Programming Approach to Concurrent Gate and Wire SizingMenezes, N. et al. | 1997
- 882
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iTEM: A Temperature-Dependent Electromigration Reliability Diagnosis ToolTeng, C.-C. et al. | 1997
- 894
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On the Nature and Inadequacies of Transport Timing Delay Constructs in VHDL DescriptionsWalker, P.A. et al. | 1997
- 916
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On the Quality of Accumulator-Based Compaction of Test ResponsesChakrabarty, K. et al. | 1997
- 923
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Compact Test Sets for High Defect CoverageReddy, S.M. et al. | 1997
- 930
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Diagnosis of CMOS Op-Amps with Gate Oxide Short Faults Using Multilayer PerceptronsYu, S. et al. | 1997
- 930
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Diagnosis of CMOS Op-Amps with Gate Oxide Short Faults Using Multilayer PerceptionsYu, S. / Jervis, B. W. / Eckersall, K. R. / Bell, I. M. et al. | 1997