Prospects for aberration-free electron microscopy (Englisch)
- Neue Suche nach: Rose, H.
- Neue Suche nach: Rose, H.
In:
ULTRAMICROSCOPY
;
103
, 1
;
1-6
;
2005
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ISSN:
- Aufsatz (Zeitschrift) / Print
-
Titel:Prospects for aberration-free electron microscopy
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Beteiligte:Rose, H. ( Autor:in )
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Erschienen in:ULTRAMICROSCOPY ; 103, 1 ; 1-6
-
Verlag:
- Neue Suche nach: Elsevier Science B.V., Amsterdam.
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Erscheinungsdatum:01.01.2005
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Format / Umfang:6 pages
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ISSN:
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Medientyp:Aufsatz (Zeitschrift)
-
Format:Print
-
Sprache:Englisch
- Neue Suche nach: 502.82
- Weitere Informationen zu Dewey Decimal Classification
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Klassifikation:
DDC: 502.82 -
Datenquelle:
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Inhaltsverzeichnis – Band 103, Ausgabe 1
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Prospects for aberration-free electron microscopyRose, H. et al. | 2004
- 7
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A versatile double aberration-corrected, energy filtered HREM/STEM for materials scienceHutchison, John L. / Titchmarsh, John M. / Cockayne, David J.H. / Doole, Ron C. / Hetherington, Crispin J.D. / Kirkland, Angus I. / Sawada, H. et al. | 2004
- 17
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Dynamic profile calculation of deposition resolution by high-energy electrons in electron-beam-induced depositionMitsuishi, K. / Liu, Z.Q. / Shimojo, M. / Han, M. / Furuya, K. et al. | 2004
- 23
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CBED study of grain misorientations in AlGaN epilayersSahonta, S.-L. / Cherns, D. / Liu, R. / Ponce, F.A. / Amano, H. / Akasaki, I. et al. | 2004
- 33
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Analysis of local orientation gradients in deformed single crystalsField, D.P. / Trivedi, P.B. / Wright, S.I. / Kumar, M. et al. | 2004
- 41
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Orientation effects on indexing of electron backscatter diffraction patternsNowell, Matthew M. / Wright, Stuart I. et al. | 2004
- 59
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Alloy liquid metal ion sources and their application in mass separated focused ion beamsBischoff, L. et al. | 2004
- 67
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Conventional and back-side focused ion beam milling for off-axis electron holography of electrostatic potentials in transistorsDunin-Borkowski, Rafal E. / Newcomb, Simon B. / Kasama, Takeshi / McCartney, Martha R. / Weyland, Matthew / Midgley, Paul A. et al. | 2004
- 83
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Imaging and characterization of fine gprime precipitates in a commercial nickel-base superalloySarosi, P. M. / Viswanathan, G. B. / Whitis, D. / Mills, M. J. et al. | 2005
- 83
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Imaging and characterization of fine #947#8242 precipitates in a commercial nickel-base superalloySarosi, P.M. et al. | 2005
- 83
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Imaging and characterization of fine γ′ precipitates in a commercial nickel-base superalloySarosi, P.M. / Viswanathan, G.B. / Whitis, D. / Mills, M.J. et al. | 2004
- CO2
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IFC (Editorial Board)| 2005
- ix
-
Contents| 2005
- v
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FEMMS 2003| 2005
- vi
-
Manuscript receipt date| 2005
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PrefaceBradley, Steven A. et al. | 2005