Growth monitoring of ultrathin copper and copper oxide films deposited by atomic layer deposition (Englisch, Deutsch)
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2016
- Hochschulschrift / Elektronische Ressource
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Titel:Growth monitoring of ultrathin copper and copper oxide films deposited by atomic layer deposition
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Weitere Titelangaben:Untersuchungen zum Wachstum ultradünner Kupfer- und Kupferoxid Schichten mittels Atomlagenabscheidung
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Beteiligte:Dhakal, Dileep ( Autor:in )
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Hochschulschrift:Dissertation, Technische Universität Chemnitz ; 2016
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Erscheinungsort:Chemnitz
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Erscheinungsdatum:2016
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Format / Umfang:1 Online-Ressource
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Medientyp:Hochschulschrift
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch, Deutsch
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Schlagwörter:
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Klassifikation:
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Datenquelle: