Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme : Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung (Deutsch)
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2020
-
ISBN:
- Buch / Elektronische Ressource
-
Titel:Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme : Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung
-
Beteiligte:Băjenescu, Titu I. ( Autor:in ) / Springer Fachmedien Wiesbaden ( Verlag ) / Springer Vieweg ( Verlag )
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Erschienen in:
-
Verlag:
- Neue Suche nach: Imprint: Springer Vieweg
-
Erscheinungsort:Wiesbaden , [Heidelberg]
-
Erscheinungsdatum:2020
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Format / Umfang:1 Online-Ressource (XXXIII, 639 S. 232 Abb., 24 Abb. in Farbe.)
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Erworben aus Studienqualitätsmitteln -
ISBN:
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DOI:
-
Medientyp:Buch
-
Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Deutsch
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Schlagwörter:
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Klassifikation:
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Inhaltsverzeichnis E-Book
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EinführungskapitelBăjenescu, Titu-Marius I. et al. | 2020
- 2
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Zuverlässigkeit einbauenBăjenescu, Titu-Marius I. et al. | 2020
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Halbleiterpackaging/Verpackungstechnologien und ZuverlässigkeitBăjenescu, Titu-Marius I. et al. | 2020
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Memristor, der SpeicherwiderstandBăjenescu, Titu-Marius I. et al. | 2020
- 5
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Test und Testbarkeit integrierter SchaltungenBăjenescu, Titu-Marius I. et al. | 2020
- 6
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Zuverlässigkeit diskreter passiver BauelementeBăjenescu, Titu-Marius I. et al. | 2020
- 7
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Zuverlässigkeit von LeistungsbauelementenBăjenescu, Titu-Marius I. et al. | 2020
- 8
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Zuverlässigkeit monolithisch integrierter SchaltungenBăjenescu, Titu-Marius I. et al. | 2020
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Aspekte der Zuverlässigkeit von Halbleiterspeichern und MikroprozessorenBăjenescu, Titu-Marius I. et al. | 2020
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Zuverlässigkeit optoelektronischer KomponentenBăjenescu, Titu-Marius I. et al. | 2020
- 11
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Zuverlässigkeit von Mikro- und NanosystemenBăjenescu, Titu-Marius I. et al. | 2020
- 12
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FehleranalyseBăjenescu, Titu-Marius I. et al. | 2020