Direct measurement of anisotropic resistivity in thin films using a 4-probe STM (Englisch)
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2020
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ISBN:
- Hochschulschrift / Print
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Titel:Direct measurement of anisotropic resistivity in thin films using a 4-probe STM
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Beteiligte:Flatten, Tim ( Autor:in ) / Peter Grünberg Institut, Elektronische Eigenschaften (PGI-6) ( Herausgebendes Organ ) / Universität zu Köln ( Grad-verleihende Institution )
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Hochschulschrift:Dissertation, Universität Köln ; 2020
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Erschienen in:Reihe Schlüsseltechnologien ; Band 213
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Verlag:
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Erscheinungsort:Jülich
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Erscheinungsdatum:2020
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Format / Umfang:viii, 129 Seiten
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Anmerkungen:24 cm
Illustrationen
Literaturverzeichnis: Seite 113-122 -
ISBN:
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Medientyp:Hochschulschrift
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Format:Print
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Sprache:Englisch
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Klassifikation:
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Lizenzbestimmungen:
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Datenquelle: