Optics and Photonics for Advanced Dimensional Metrology II : 3-7 April 2022, Strasbourg, France : 9-20 May 2022, online (Englisch)
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2022
-
ISBN:
- Konferenzband / Elektronische Ressource
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Titel:Optics and Photonics for Advanced Dimensional Metrology II : 3-7 April 2022, Strasbourg, France : 9-20 May 2022, online
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Beteiligte:Groot, Peter J. ( Herausgeber:in ) / Leach, Richard ( Herausgeber:in ) / Picart, Pascal ( Herausgeber:in ) / Optics and Photonics for Advanced Dimensional Metrology, Veranstaltung ( Autor:in ) / SPIE ( Herausgebendes Organ , Sponsor:in )
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Kongress:Optics and Photonics for Advanced Dimensional Metrology ; 2022 ; Strasbourg
Optics and Photonics for Advanced Dimensional Metrology ; 2022 ; Online
SPIE Photonics Europe ; 2022 ; Strasbourg; Online -
Erschienen in:Proceedings of SPIE ; volume 12137Proceedings of SPIE ; volume PC12137
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Verlag:
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Erscheinungsort:Bellingham, Washington, USA
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Erscheinungsdatum:2022
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Format / Umfang:2 Online-Ressourcen
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Anmerkungen:Illustrationen
Campusweiter Zugriff (Universität Hannover). - Vervielfältigungen (z.B. Kopien, Downloads) sind nur von einzelnen Kapiteln oder Seiten und nur zum eigenen wissenschaftlichen Gebrauch erlaubt. Keine Weitergabe an Dritte.
Teilkonferenz von SPIE Photonics Europe 2022
Enthält teilweise Vorträge in Form von Videos (Präsentationsfolien), teilweise ausgearbeitete Vorträge
Literaturangaben -
ISBN:
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Medientyp:Konferenzband
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Klassifikation:
BKL: 50.21 Messtechnik -
Datenquelle: