In-situ study of crack propagation in patterned structures of microchips using X-ray microscopy (Englisch)
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2023
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Titel:In-situ study of crack propagation in patterned structures of microchips using X-ray microscopy
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Weitere Titelangaben:In-situ Untersuchung der Rissausbreitung in Mikrochip-Strukturen mittels Röntgenmikroskopie
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Beteiligte:Kutukova, Kristina ( Autor:in ) / Zschech, Ehrenfried ( Gutachter:in ) / Schmeißer, Dieter ( Gutachter:in ) / Schneider, Gerd ( Gutachter:in )
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Hochschulschrift:Dissertation, Cottbus, BTU Cottbus - Senftenberg ; 2023
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Verlag:
- Neue Suche nach: BTU Cottbus - Senftenberg
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Erscheinungsort:Cottbus
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Erscheinungsdatum:2023
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Format / Umfang:1 Online-Ressource
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DOI:
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Medientyp:Hochschulschrift
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Format:Elektronische Ressource
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Sprache:Englisch
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Schlagwörter:
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Datenquelle: